[發明專利]顯示屏的調試方法、裝置及系統在審
| 申請號: | 201410643764.2 | 申請日: | 2014-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN104361871A | 公開(公告)日: | 2015-02-18 |
| 發明(設計)人: | 張箭 | 申請(專利權)人: | 硅谷數模半導體(北京)有限公司;硅谷數模國際有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/36 | 分類號: | G09G3/36;G09G3/00;G06F3/14 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明;張永明 |
| 地址: | 100086 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示屏 調試 方法 裝置 系統 | ||
1.一種顯示屏的調試方法,其特征在于,包括:
屏幕調試器獲取與待調試的屏幕型號對應的至少一個標準參數;
所述屏幕調試器讀取所述待調試屏幕的至少一個顯示參數;
所述屏幕調試器將任意一個顯示參數與對應的標準參數分別進行比對,判斷所述顯示參數值與所述標準參數值是否匹配;
在所述顯示參數值與所述標準參數值不匹配的情況下,使用所述標準參數更新對應的所述顯示參數。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述屏幕調試器獲取與待調試的屏幕型號對應的至少一個標準參數之后,所述方法還包括:
為所述標準參數設置標準參數值的上限冗余值和下限冗余值,所述屏幕調試器根據所述標準參數和按照所述上限冗余浮動值或所述下限冗余值進行調試。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述屏幕調試器將任意一個顯示參數與對應的標準參數分別進行比對,判斷所述顯示參數值與所述標準參數值是否匹配的步驟包括:
根據所述標準參數值、所述上限冗余值和下線冗余值,確定標準參數判斷區間,所述標準參數判斷區間用于判斷所述顯示參數是否處于所述標準參數判斷區間內;
當所述顯示參數在所述標準參數判斷區間內,所述顯示參數值與所述標準參數值匹配;
當所述顯示參數不在所述標準參數判斷區間內,所述顯示參數值與所述標準參數值不匹配。
4.根據權利要求1至3中任意一所述的方法,其特征在于,屏幕調試器獲取與待調試的屏幕型號對應的至少一個標準參數的步驟包括:
將所述屏幕調試器與計算機進行通信連接,所述通信連接的方式至少包括以下方式之一:通過有線網絡連接、通過無線網絡連接、通過通用串行總線USB連接;
所述屏幕調試器根據待調試的屏幕型號,下載與所述屏幕型號對應的所述標準參數和與所述屏幕型號對應的配置文件,所述標準參數至少包括以下參數中的任意一種:最大分辨率、顏色數量、像素間距、最大刷新率、最小刷新率、液晶響應時間、亮度和對比度。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述屏幕調試器至少包括如下任意一個或多個調試接口:I2C/SMBus調試接口、SPI調試接口、Gamma值調試接口、文件下載接口和顯示屏調試接口,其中,
設置所述I2C/SMBus調試接口,所述屏幕調試器通過所述I2C/SMBus調試接口與所述待調試屏幕的時序控制器連接,所述I2C/SMBus調試接口用于傳輸所述標準參數信息和/或所述顯示參數信息;
設置所述SPI調試接口,所述屏幕調試器通過所述SPI調試接口,對顏色參考表進行調試或更新;
設置所述Gamma值調試接口,所述屏幕調試器通過所述Gamma值調試接口與所述待調試屏幕的Gamma參數電源管理芯片連接,所述Gamma值調試接口用于對所述待調試屏幕的Gamma參數進行單獨調試或更新;
設置所述文件下載接口,所述屏幕調試器通過所述文件下載接口與所述待調試屏幕的存儲模塊連接,所述文件下載接口用于傳輸所述待調試屏幕的配置文件;
設置所述顯示屏調試接口,所述屏幕調試器通過所述顯示屏調試接口與所述待調試屏幕的顯示模塊連接,所述顯示屏調試接口用于直接控制所述待調試屏幕的顯示內容。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,為各個接口分別設置功能開關,所述功能開關用于對所述各個接口進行單獨控制。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,當所述屏幕調試器與計算機進行通信連接,所述通信連接通過USB連接時,所述屏幕調試器由USB接口供電。
8.一種顯示屏的調試裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于屏幕調試器獲取與待調試的屏幕型號對應的至少一個標準參數;
讀取模塊,用于所述屏幕調試器讀取所述待調試屏幕的至少一個顯示參數;
判斷模塊,用于所述屏幕調試器將任意一個顯示參數與對應的標準參數分別進行比對,判斷所述顯示參數值與所述標準參數值是否匹配;
更新模塊,用于在所述顯示參數值與所述標準參數值不匹配的情況下,使用所述標準參數更新對應的所述顯示參數。
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