[發明專利]用于測試顯示面板的驅動膜以及用于生產驅動膜的方法

在審

• 申請號: 201410643244.1
• 申請日: 2014-11-06
• 公開（公告）號: CN105280123A
• 公開（公告）日: 2016-01-27
• 發明（設計）人: 樸贊仲;崔舜澈;金泰賢
• 申請（專利權）人: 可迪愛思株式會社
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王小東

技術領域

本發明涉及用于測試顯示面板的驅動膜以及用于生產該驅動膜的方法。

背景技術

需要就顯示器在完成之前是否正常運行而測試諸如液晶顯示器(LCD)之類的平板顯示器(FPD)、等離子顯示面板(PDP)以及有機發光二極管(OLED)。這種測試主要在包括于顯示器中的顯示面板上進行，并且在包括驅動芯片的顯示器完成之前在顯示面板處于單元部件的狀態下進行測試。這是因為在測試成品的情況下測試精度及檢測水平很高，但是如果發現已經經過多種加工的顯示面板的缺陷或問題，那么測試損失非常大。

總的來說，用于測試顯示面板的方法包括這樣的程序，其中，通過使用測試裝置將電信號施加至顯示面板，從而確定顯示面板是否欠佳。此測試裝置還被稱為探針塊(probeblock)，并且刀片型裝置或針型裝置被廣泛使用。

具有低分辨率的顯示面板具有少量像素，因而數據線或電源線的數量少。因此，可借助間距小的測試裝置測試具有低分辨率的顯示面板。然而，為了生產具有高分辨率的顯示面板，需要在顯示面板中設置大量具有相同尺寸的像素，因而在其中形成具有微小間距的大量數據線與電源線。因此，需要用于測試顯示面板的測試裝置對應顯示面板的微小間距。

刀片型或針型測試裝置精確接觸顯示面板的測試點，并且向該測試點施加電信號，從而檢測是否存在缺陷。然而，在測試裝置與顯示面板的微小線寬及間距不能對應的情況下，會發生檢測誤差。為了解決此問題并且提高生產率，開發了膜型測試裝置。

發明內容

[本發明要解決的問題]

同時，測試裝置與顯示面板接觸以便向該顯示面板施加電信號，一般來說，其直接接觸部分由銅圖案等形成，或者電鍍有金屬。如果測試數量增加，那么電鍍有金屬的部分容易磨損并且因持續接觸顯示面板而使銅圖案暴露，因而會使檢測質量下降。此外，測試裝置的耐用性受到限制。

本發明的目的是確保接觸質量及測試裝置與顯示面板相互接觸的部分的耐用性。

[解決問題的手段]

根據本發明的一方面，提供一種用于生產測試顯示面板用的驅動膜的方法，該方法包括：通過加工板材而形成初始圖案的步驟；將所述初始圖案附接至基板的步驟；以及通過裁剪附接至所述基板的所述初始圖案而生成與所述顯示面板接觸的接觸部分對應的圖案的步驟。

所述板材可包括經過了軋制加工的薄板狀金屬。

所述板材可包括鈹銅、銅(Cu)、鎳鉻鐵(nickel-chromium-fer(NCF))、鈹鎳鈦(BNT)、鎢、碳納米管(CNT)以及石墨烯中的至少一者。

所述板材可進行熱處理。

形成所述板材的所述步驟還可包括在所述板材上進行蝕刻加工、激光加工以及切割加工中至少一者的步驟。

所述方法還可包括：在所述初始圖案的所述步驟后進行一次電鍍的步驟。

所述基板可包括聚酰亞胺(PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、工程塑料、不銹鋼(SUS)以及玻璃中的至少一者。

所述方法還可包括在將所述初始圖案附接至所述基板的步驟后進行二次電鍍的步驟。

所述初始圖案還可包括：形成在多個開口之間的多個線性部分；以及連接構件，該連接構件使所述多個線性部分的第一端相互連接，并且使所述多個線性部分的第二端相互連接。

生成所述圖案的所述步驟可包括切除所述連接構件的步驟。

根據本發明的另一方面，提供一種用于測試顯示面板的驅動膜，該驅動膜包括：向所述顯示面板施加信號的驅動芯片；以及接觸部分，該接觸部分包括與所述顯示面板接觸并將所述信號傳送至所述顯示面板的圖案，其中，將通過加工板材形成的初始圖案附接至基板并且通過切除部分所述初始圖案，而形成所述接觸部分。

所述板材可包括鈹銅、銅(Cu)、鎳鉻鐵(NCF)、鈹鎳鈦(BNT)、鎢、碳納米管(CNT)以及石墨烯中的至少一者。

所述圖案可至少電鍍一次。

所述接觸部分可包括這樣的圖案，該圖案設置有形成在多個開口之間的多個線性部分。

所述驅動膜還可包括：形成在所述圖案上的固定構件。

所述基板可包括聚酰亞胺(PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、工程塑料、不銹鋼(SUS)以及玻璃中的至少一者。

[本發明的優勢]

根據本發明，在膜型顯示面板測試裝置中，與顯示面板接觸的部分由金屬板材形成，因而能夠確保與顯示面板的接觸質量，并能夠確保耐用性。

附圖說明

圖1是根據本發明的實施方式的顯示面板測試裝置的側視圖。