[發(fā)明專利]一種微米級損傷深度的金相檢測法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410631744.3 | 申請日： | 2014-11-10 |
| 公開（公告）號： | CN104390602A | 公開（公告）日： | 2015-03-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 龔曉寧;劉衛(wèi)東;劉建 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都發(fā)動機（集團(tuán)）有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/22 | 分類號： | G01B11/22 |
| 代理公司： | 成都科海專利事務(wù)有限責(zé)任公司 51202 | 代理人： | 黃幼陵;馬新民 |
| 地址： | 610503 四川省成都市*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 微米 損傷 深度 金相 檢測 | ||
1.一種微米級損傷深度的金相檢測法，其特征在于使用光學(xué)顯微鏡，步驟依次如下：
(1)將待檢測樣件清洗并干燥后放置在光學(xué)顯微鏡的載物臺上，選用2X～50X的放大倍數(shù)對所述待檢測樣件的損傷區(qū)域進(jìn)行觀察；
(2)移動載物臺，對所述待檢測樣件的整個待檢區(qū)域進(jìn)行掃描觀察，確定損傷深度檢測部位；
(3)對所確定的損傷深度檢測部位的損傷深度進(jìn)行預(yù)估，并根據(jù)預(yù)估的損傷深度選擇光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)，然后調(diào)節(jié)光學(xué)顯微鏡的聚焦旋鈕，當(dāng)損傷深度檢測部位的損傷最深處聚焦清晰后，記錄下所述聚焦旋鈕的刻度讀數(shù)；
(4)重新調(diào)節(jié)光學(xué)顯微鏡的聚焦旋鈕，使所述待檢測樣件損傷深度檢測部位的未損傷表面聚焦清晰，并記錄下所述聚焦旋鈕的刻度讀數(shù)；
(5)計算步驟(3)得到的聚焦旋鈕的刻度讀數(shù)與步驟(4)得到的聚焦旋鈕的刻度讀數(shù)的差值，將所述差值乘以所使用的光學(xué)顯微鏡聚焦旋鈕上每格讀數(shù)所代表的深度，即可得到待檢測樣件此次測量的損傷深度值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述微米級損傷深度的金相檢測法，其特征在于待檢測樣件使用酒精清洗，使用熱風(fēng)干燥。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述微米級損傷深度的金相檢測法，其特征在于步驟(3)和步驟(4)中，光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)為100X～1000X。
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