[發(fā)明專利]一種無損檢測梨的硬度方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410630019.4
• 申請(qǐng)日: 2014-11-11
• 公開（公告）號(hào): CN104359838A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李柏承;侯寶路;周瑤;李夢遠(yuǎn);徐邦聯(lián);王琦;張大偉;黃元申
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N21/25
• 分類號(hào): G01N21/25
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種無損檢測梨的硬度方法，其特征在于，通過可見-近紅外波段的高光譜成像系統(tǒng)測得多個(gè)不同種類的梨的高光譜圖像，再通過黑白版校正，將高光譜圖像中每一點(diǎn)的光譜響應(yīng)強(qiáng)度轉(zhuǎn)換成統(tǒng)一的0-100%的反射率圖像，再通過Labview軟件對(duì)圖像的亮度進(jìn)行提取和著色，將不同的亮度區(qū)域區(qū)分開，然后在同一顏色區(qū)域選取10個(gè)不同的點(diǎn)求平均代表整個(gè)梨的反射率，結(jié)合梨的反射率曲線提取每一波段的反射率信息通過主成分分析PCA提取特征波段，通過國家標(biāo)準(zhǔn)方法測得的梨的硬度的實(shí)際值，再用偏最小二乘法PLS算法建立回歸模型，得到各種類梨的回歸方程，根據(jù)回歸方程，便可通過測量所測梨的光譜圖，計(jì)算出所測梨的硬度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述無損檢測梨的硬度方法，其特征在于，所述黑白版校正過程為：將反射率高達(dá)99.99的聚四氟乙烯的白板放在高光譜相機(jī)的聚焦透鏡焦平面處，改變曝光時(shí)間使相機(jī)接收光強(qiáng)在最大光強(qiáng)的80%，記下白板反射強(qiáng)度W，將聚焦透鏡用黑板封閉，記下黑板反射強(qiáng)度B1，測完后放回樣品，調(diào)節(jié)曝光時(shí)間使得相機(jī)接收光強(qiáng)為最大光強(qiáng)的80%，再用黑板封閉透鏡，記下樣品黑板反射強(qiáng)度B2，通過電機(jī)載著樣品勻速移動(dòng)實(shí)現(xiàn)樣品的全掃描，最終測得樣品反射強(qiáng)度為S，則帶入校正公式：光譜反射率R=(S-B2/W-B1)x100%，實(shí)現(xiàn)黑白板校正。