[發(fā)明專利]用于利用結(jié)構(gòu)光測(cè)量半導(dǎo)體器件元件的物理特性的系統(tǒng)和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410616244.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-09-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104515773A | 公開(公告)日: | 2015-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | D·索德;Z·王;T·J·小科洛西莫;D·A·勞特;S-G·唐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 庫利克和索夫工業(yè)公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84;G01B11/24 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 林金朝;王英 |
| 地址: | 美國賓*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 利用 結(jié)構(gòu) 測(cè)量 半導(dǎo)體器件 元件 物理 特性 系統(tǒng) 方法 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求2013年9月3日提交的美國臨時(shí)申請(qǐng)No.61/873,288的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益,該美國臨時(shí)申請(qǐng)的內(nèi)容通過引用并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于測(cè)量半導(dǎo)體器件元件的物理特性的系統(tǒng)和方法(通常與半導(dǎo)體元件的接合操作相關(guān)),并且更具體地,涉及用于利用結(jié)構(gòu)光測(cè)量這種物理特性的改進(jìn)的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體器件包括各種物理特征或特性,所述各種物理特征或特性最好是可控的。例如,通常可取的是半導(dǎo)體管芯在包裝之前(例如,在管芯附著工藝、熱壓接合工藝等之前)基本上是平的。另外,典型的是對(duì)半導(dǎo)體器件或封裝中所包括的元件的某些物理屬性進(jìn)行測(cè)量,以確保符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)格。
具體而言,在熱壓接合(例如,利用兩個(gè)器件之間的銅柱或類似的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)將一個(gè)半導(dǎo)體器件與另一個(gè)半導(dǎo)體器件接合)中,接合元件的物理特征或者特性最好是可控的。這在多個(gè)器件同時(shí)熱壓接合時(shí)尤其正確。
因此,可取的是提供用于測(cè)量和/或控制這種物理特性的改進(jìn)的系統(tǒng)和方法。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例,提供了用于利用結(jié)構(gòu)光來確定半導(dǎo)體器件元件上的粘合劑材料的物理特性的方法。所述方法包括以下步驟:(1)將結(jié)構(gòu)光圖案應(yīng)用于半導(dǎo)體器件元件上的粘合劑材料;(2)利用相機(jī)創(chuàng)建結(jié)構(gòu)光圖案的圖像;以及(3)分析結(jié)構(gòu)光圖案的圖像,以確定粘合劑材料的物理特性。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例,提供了利用結(jié)構(gòu)光來確定涂覆在半導(dǎo)體器件的元件之間的粘合劑材料的倒角的物理特性的方法。所述方法包括以下步驟:(1)將結(jié)構(gòu)光圖案應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的元件之間的粘合劑倒角;(2)利用相機(jī)創(chuàng)建結(jié)構(gòu)光圖案的圖像;以及(3)分析結(jié)構(gòu)光圖案的圖像,以確定粘合劑倒角的物理特性。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例,提供了利用結(jié)構(gòu)光來確定半導(dǎo)體器件的平面度特性的方法。所述方法包括:(1)利用相機(jī)創(chuàng)建被半導(dǎo)體器件的表面反射的結(jié)構(gòu)光圖案的圖像;以及(2)分析結(jié)構(gòu)光圖案的圖像,以確定半導(dǎo)體器件的平面度特性。
根據(jù)本發(fā)明的某些示例性實(shí)施例,可以在熱壓接合機(jī)上實(shí)現(xiàn)這些和其它方法(包括本文中所列舉的步驟中的部分或全部步驟)。
根據(jù)本發(fā)明的某些示例性實(shí)施例,本文中所述的方法(包括確定半導(dǎo)體器件元件上的粘合劑材料的物理特性的方法、確定涂覆在半導(dǎo)體器件的元件之間的粘合劑材料的倒角的物理特性的方法、以及確定半導(dǎo)體器件的平面度特性的方法)可以包括使用不同的結(jié)構(gòu)光圖案,以獲得最佳的測(cè)量結(jié)果(例如,如本文中所述的物理特性或平面度特性)。例如,可以重復(fù)進(jìn)行利用相機(jī)沉積結(jié)構(gòu)光圖案的圖像和分析結(jié)構(gòu)光圖案的圖像以確定特性的步驟(由此分析多個(gè)圖像),以確定所期望的測(cè)量結(jié)果。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例,提供了熱壓接合系統(tǒng)。熱壓接合系統(tǒng)包括:(1)支撐結(jié)構(gòu),其用于支撐包括粘合劑材料的半導(dǎo)體器件元件;(2)結(jié)構(gòu)光源,其用于在粘合劑材料上提供結(jié)構(gòu)光圖案;以及(3)相機(jī),其用于創(chuàng)建粘合劑材料上的結(jié)構(gòu)光圖案的圖像。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例,提供了熱壓接合系統(tǒng)。熱壓接合系統(tǒng)包括:(1)支撐結(jié)構(gòu),其用于支撐半導(dǎo)體器件;(2)結(jié)構(gòu)光源,其用于提供結(jié)構(gòu)光圖案;以及(3)相機(jī),其用于利用半導(dǎo)體器件的反射表面間接觀察結(jié)構(gòu)光圖案,該相機(jī)創(chuàng)建結(jié)構(gòu)光圖案的圖像。
附圖說明
通過結(jié)合附圖閱讀以下具體實(shí)施方式可以最好地理解本發(fā)明。需要強(qiáng)調(diào)的是,根據(jù)慣例,附圖的各種特征不是按比例繪制的。反而,為了清楚起見,各種特征的尺寸被任意地放大或縮小。附圖中包括下圖:
圖1是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的熱壓接合機(jī)的元件的方塊圖視圖;
圖2A-2B是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的投射到粘合劑材料上的結(jié)構(gòu)光圖案的頂視圖;
圖3是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例所產(chǎn)生的粘合劑材料的三維表示;
圖4A是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的要成像的粘合劑材料倒角的方塊圖的側(cè)視圖;
圖4B是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例所產(chǎn)生的粘合劑材料倒角的三維表示;
圖5是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的可以與熱壓接合機(jī)結(jié)合使用的成像元件的方塊圖視圖;
圖6是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的熱壓接合機(jī)的元件的方塊圖視圖;
圖7A-7C是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的從半導(dǎo)體器件的表面反射的結(jié)構(gòu)光圖案的一系列圖像;以及
圖8是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的熱壓接合機(jī)的元件的另一個(gè)方塊圖視圖。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
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- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
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