[發明專利]求取淺層速度場的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410589005.2
• 申請日: 2014-10-28
• 公開（公告）號: CN105549075B
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發明（設計）人: 崔永福;陳猛;劉正文;李飛;趙銳銳;孫海軍;黨青寧;郭念民
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
• 代理人: 劉芳

1.一種求取淺層速度場的方法，其特征在于，包括：

將地震數據的基準面靜校正量基于浮動面進行高低頻分離，獲得浮動面靜校正量、炮點高頻靜校正量和檢波點高頻靜校正量；

獲取炮點相對所述浮動面的值和檢波點相對所述浮動面的值；

依據所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量；

依據所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量；

依據所述第一校正量和所述第二校正量校正所述地震數據獲得校正后的地震數據，對所述校正后的地震數據拾取初至，依據所述初至進行層析反演獲得所述淺層速度場；

所述浮動面靜校正量是所述炮點和所述檢波點對應的浮動點相對于固定基準面的值；

所述炮點相對所述浮動面的值是過所述炮點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準面的值的一半；

所述檢波點相對所述浮動面的值是過所述檢波點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準面的值的一半。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述炮點和所述檢波點連線的中點為浮動點，由多個炮點和多個檢波點對應的多個浮動點構成所述浮動面。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述依據所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量包括：

所述第一校正量T_s＝T_cmp/2+T_stat-source-T_cmp-source，其中，T_cmp表示所述浮動面靜校正量，T_stat-source表示所述炮點高頻靜校正量，T_cmp-source表示所述炮點相對所述浮動面的值；

所述依據所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量包括：

所述第二校正量T_d＝T_cmp/2+T_stat-detect-T_cmp-detect，其中，T_cmp表示所述浮動面靜校正量，T_stat-detect表示所述檢波點高頻靜校正量，T_cmp-detect表示所述檢波點相對所述浮動面的值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述炮點高頻靜校正量是所述炮點相對于所述固定基準面的值減去所述浮動面靜校正量；

所述檢波點高頻靜校正量是所述檢波點相對于所述固定基準面的值減去所述浮動面靜校正量。

5.一種求取淺層速度場的裝置，其特征在于，包括：

分離模塊，用于將地震數據的基準面靜校正量基于浮動面進行高低頻分離，獲得浮動面靜校正量、炮點高頻靜校正量和檢波點高頻靜校正量；

獲取模塊，用于獲取炮點相對所述浮動面的值和檢波點相對所述浮動面的值；

處理模塊，用于依據所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量；依據所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量；依據所述第一校正量和所述第二校正量校正所述地震數據獲得校正后的地震數據，對所述校正后的地震數據拾取初至，依據所述初至進行層析反演獲得所述淺層速度場；

所述浮動面靜校正量是所述炮點和所述檢波點對應的浮動點相對于固定基準面的值；

所述炮點相對所述浮動面的值是過所述炮點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準面的值的一半；

所述檢波點相對所述浮動面的值是過所述檢波點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準面的值的一半。

6.根據權利要求5所述的求取淺層速度場的裝置，其特征在于，所述炮點和所述檢波點連線的中點為浮動點，由多個炮點和多個檢波點對應的多個浮動點構成所述浮動面。