[發(fā)明專利]一種復(fù)合材料天線罩質(zhì)量無損跟蹤與評價方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410572990.6
• 申請日: 2014-10-23
• 公開（公告）號: CN104316546A
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張大海;孫妮娟;梅思楊;范錦鵬;金虎;賴文恩;劉云輕;曹淑偉
• 申請（專利權(quán)）人: 航天材料及工藝研究所;中國運載火箭技術(shù)研究院
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

1.一種復(fù)合材料天線罩質(zhì)量無損跟蹤與評價方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟(一)、制備一系列不同密度的石英纖維增強二氧化硅復(fù)合材料標準樣品，所述一系列標準樣品的組成配比與石英纖維增強二氧化硅復(fù)合材料天線罩的組成配比相同；

步驟(二)、設(shè)定CT測試的測試條件，包括電壓、電流、像素分辨率、掃描層厚度和掃描間隔，采用CT測試設(shè)備對步驟(一)中制備的一系列標準樣品的CT灰度值進行測試，得到石英纖維增強二氧化硅復(fù)合材料的密度與CT灰度值之間的函數(shù)關(guān)系；

步驟(三)、沿石英纖維增強二氧化硅復(fù)合材料天線罩的軸線對天線罩進行分層，采用CT測試設(shè)備按照步驟(二)中的測試條件對天線罩進行分層掃描，得到每層的CT灰度分布，即獲得每層中各個測試點的灰度值；

步驟(四)、采用CT重構(gòu)軟件將步驟(三)得到的各層中的所有測試點數(shù)值進行重新采樣和圖像合成，獲得以CT灰度數(shù)值顯示的天線罩整罩三維圖像；

步驟(五)、根據(jù)步驟(二)得到石英纖維增強二氧化硅復(fù)合材料的密度與CT灰度值之間的函數(shù)關(guān)系，得到步驟(四)獲得的天線罩整罩三維圖像中各個測試點的密度；

步驟(六)、獲得天線罩整罩三維圖像中各個測試點的密度梯度值P，具體方法如下：

以天線罩水平層橫截面的對稱中心為原點O，在水平層橫截面上建立平面坐標系OXY，設(shè)ρ(x₀，y₀)為水平層橫截面中任意一個測試點A1(x₀，y₀)對應(yīng)的密度，ρ(x₀+Δx,y₀)、ρ(x₀,y₀+Δy)分別為與點A1(x₀，y₀)相鄰的兩個測試點的密度，點A1(x₀，y₀)與X軸的夾角為θ，根據(jù)梯度公式，有：

P=dρ(x,y)]]>

=∂ρ/∂x·cosθ+∂ρ/∂y·sinθ=ρ(x0+Δx,y0)-ρ(x0,y0)Δx·x0x02+y02+ρ(x0,y0+Δy)-ρ(x0,y0)Δy·y0x02+y02;]]>

其中：和分別為點A1(x₀，y₀)在X方向上和在Y方向上的偏導(dǎo)數(shù)，

P為點A1(x₀，y₀)的密度梯度值；

步驟(六)、對步驟(五)中得到的天線罩每層中的各個測試點的密度梯度值P的絕對值|P|進行判斷，若|P|≥0.05，則判斷該測試點位于缺陷區(qū)域邊界上，否則該測試點位于缺陷區(qū)域內(nèi)或正常區(qū)域內(nèi)。