[發(fā)明專利]一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410563291.5
• 申請日: 2014-10-21
• 公開（公告）號: CN104406489A
• 公開（公告）日: 2015-03-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 康春平
• 申請（專利權(quán)）人: 康春平
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 西安弘理專利事務(wù)所 61214
• 代理人: 李娜

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于高度尺技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法。

背景技術(shù)

在數(shù)顯高度尺裝配后，如果發(fā)現(xiàn)存在較大誤差，現(xiàn)有的方法只能是對硬件進(jìn)行校準(zhǔn)，有兩種途徑：一是對主尺硬件(即尺身或齒條)進(jìn)行外力校直變形，達(dá)到誤差補償，形成合格產(chǎn)品，而該方法的缺點是容易產(chǎn)生回彈，導(dǎo)致示值不穩(wěn)定。如果外力校直的方法無法解決誤差過大問題，就只能更換芯片，通過挑選合適芯片達(dá)到消減誤差，而該方法的缺點是芯片需要配選、且可靠度不高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法，解決了現(xiàn)有的數(shù)顯高度尺示值誤差校準(zhǔn)時存在的過程繁瑣、可靠度不高的缺點。

本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法，具體過程如下：

將動?xùn)判D(zhuǎn)一周的距離上按順序設(shè)置有多個節(jié)點，依次測量每個節(jié)點的長度并記錄其原始誤差，然后對每個節(jié)點的示值人為加入新的原始誤差以抵消原有的原始誤差進(jìn)行修正，最后將修正后的結(jié)果重新輸入數(shù)顯高度尺的芯片組中，完成對數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)過程。

本發(fā)明的特點還在于，

節(jié)點設(shè)置有200個。

動?xùn)派系墓?jié)點等間距設(shè)置。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法解決了現(xiàn)有的數(shù)顯高度尺示值誤差校準(zhǔn)時存在的過程繁瑣、可靠度不高的缺點。本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法通過對示值誤差進(jìn)行校準(zhǔn)，具有以下優(yōu)點：

1、提高數(shù)顯高度尺的精度，減少測量誤差；

2、減少主尺硬件(即尺身或齒條)變形對示值的影響，提高產(chǎn)品合格率；

3、提高數(shù)顯高度尺的產(chǎn)品精度，使數(shù)顯高度尺不僅具有傳統(tǒng)的劃線功能，又具有計量功能。

具體實施方式

下面結(jié)合具體實施方式對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。

本發(fā)明提供的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法，具體過程如下：

將動?xùn)判D(zhuǎn)一周的距離上按順序設(shè)置有多個節(jié)點，依次測量每個節(jié)點的長度并記錄其原始誤差，然后對每個節(jié)點的示值人為加入新的原始誤差以抵消原有的原始誤差進(jìn)行修正，最后將修正后的結(jié)果重新輸入數(shù)顯高度尺的芯片組中，完成對數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)過程。

節(jié)點等間距設(shè)置有200個，即將動?xùn)判D(zhuǎn)一周的距離等距劃分為200個節(jié)距，動?xùn)派系墓?jié)點劃分根據(jù)具體情況的不同可以適當(dāng)調(diào)整，如果劃分的節(jié)點太少，在補償過程中就會出現(xiàn)有些位置漏掉，如果劃分的節(jié)點太多，則會增加工作難度，因此本申請選擇200個節(jié)點是根據(jù)實際操作計算的較為適中的一個數(shù)字，其可以保證經(jīng)過校準(zhǔn)后的誤差滿足本申請需求，例如使0-600mm高度尺的標(biāo)準(zhǔn)誤差為±0.015mm。

把動?xùn)判D(zhuǎn)一周的距離均勻細(xì)分為200個節(jié)點，即每1/200的動?xùn)啪嚯x為一個節(jié)距長度，對每個節(jié)點進(jìn)行計量后記錄其原始誤差的具體過程為：在檢驗前提前準(zhǔn)備一套示值正確的標(biāo)準(zhǔn)塊庫，該標(biāo)準(zhǔn)塊庫是由好多塊不同尺寸的標(biāo)準(zhǔn)塊組成，它們可任意拼接，組成需要的任何標(biāo)準(zhǔn)尺寸，在檢驗節(jié)點的長度時，先在平臺上將數(shù)顯高度尺調(diào)零后再去測量不同高度的標(biāo)準(zhǔn)塊或者標(biāo)準(zhǔn)塊的拼接件，數(shù)顯高度尺顯示的示值與標(biāo)準(zhǔn)塊或拼接件的實際尺寸差即為該節(jié)點處的原始誤差，然后對每一個節(jié)點所在位置的原始誤差經(jīng)外部計算機相對應(yīng)地更改補償，人為地加入新的原始誤差，去減少、抵消原有的原始誤差，使其每個位置節(jié)點的最終誤差為0，即將修正原始誤差的程序由外部計算機輸入到高度尺芯片組中，完成該數(shù)顯高度尺的固定芯片組補償。在使用過程中該高度尺芯片組將按照已修正的程序?qū)ぜ嬃浚嬃拷Y(jié)果顯示的即為修正后的尺寸，因此本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法在不改變硬件結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上完成了對數(shù)顯高度尺誤差的校準(zhǔn)過程，使得數(shù)顯高度尺的示值即為待測量物體的正確高度，這樣不但減小了每個節(jié)距中存在的誤差，而且還提高了計量精度，使數(shù)顯類高度尺不僅具有傳統(tǒng)的劃線功能，又可以具有計量功能，以0-600㎜高度尺為例，國家標(biāo)準(zhǔn)誤差為±0.05mm，經(jīng)過本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)后的誤差可達(dá)到±0.015mm，大幅提高了數(shù)顯類高度尺的精度。

通過上述方式，本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法解決了現(xiàn)有的數(shù)顯高度尺示值誤差校準(zhǔn)時存在的過程繁瑣、可靠度不高的缺點。本發(fā)明的一種數(shù)顯高度尺示值誤差的校準(zhǔn)方法通過對示值誤差進(jìn)行校準(zhǔn)，具有以下優(yōu)點：

1、提高數(shù)顯高度尺的精度，減少測量誤差；

2、減少主尺硬件(即尺身或齒條)變形對示值的影響，提高產(chǎn)品合格率；

3、提高數(shù)顯高度尺的產(chǎn)品精度，使數(shù)顯高度尺不僅具有傳統(tǒng)的劃線功能，又具有計量功能。