[發(fā)明專利]一種火電廠汽輪機軸瓦的修復工藝

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201410555655.5
• 申請日: 2014-10-17
• 公開（公告）號: CN104384814A
• 公開（公告）日: 2015-03-04
• 發(fā)明（設計）人: 王沛
• 申請（專利權）人: 蘭州西固熱電有限責任公司
• 主分類號: B23P6/00
• 分類號: B23P6/00;B23P6/04;G01N21/91
• 代理公司: 北京振安創(chuàng)業(yè)專利代理有限責任公司 11025
• 代理人: 祁純陽

技術領域

本發(fā)明及一種軸瓦修復工藝，具體涉及一種火電廠汽輪機軸瓦的修復工藝。

背景技術

汽輪機軸承合金為巴氏合金，巴氏合金按化學成分分為兩類，即錫基軸承合金和鉛基軸承合金。錫基軸承合金是以Sn為基礎，加入少量Sb，Cu所組成的合金，典型的牌號為:ZChSnSb11-6，常用于澆注重載高速和抗腐蝕要求高的軸瓦，如汽輪機和發(fā)電機的主軸瓦；鉛基軸承合金是以Pb為基礎加入Sn、Sb，Cu等所組成的合金，典型的牌號為ZChPbSb16-16-2，常用來制造低中載荷和低中速設備的軸承，如泵、風機、磨煤機和電動機的軸承內襯。

軸瓦基體一般是鑄造成型，然后在其內表面澆鑄一層薄層(1.5～7mm)烏金，形成一圈烏金復合層而組成。有徑向支持軸承軸瓦和軸向推力軸承軸瓦兩種。徑向支持軸承軸瓦支撐著轉子的重量和由于轉子質量不平衡與高速轉動而引起的離心力，并確定轉子的徑向位置，使其中心與汽缸中心保持一致。推力軸瓦呈扇形，其作用是承擔高壓蒸汽作用在轉子上的軸推力，并確定轉子的軸向位置，使轉子與靜止部分保持一定的軸向間隙。汽輪機在工作時，轉子高速運轉(3000轉/分)，將在軸瓦上產生根大的徑向、軸問載荷并伴隨著突發(fā)情況的沖擊力作用。如軸瓦上有脫胎層等缺陷的存在，在各種外力的綜合作用下，將使脫胎層等缺陷擴展，甚至造成軸瓦烏金復合層的脫落與熔化，從而引發(fā)燒瓦、停機，嚴重地影響發(fā)電廠的安全和經擠效益。

大型軸承在使用過程中會經常碰到軸瓦瓦面烏金損壞的情況，比如脫胎、裂紋、局部脫落或磨損以及腐蝕等，產生的原因很多，如制造時澆注質量問題、運行操作中產生的因素、檢修安裝方面的因素等等，而大型的軸瓦價格比較昂貴，更換成本較大，因此涉及到了如何進行修復的問題。

軸承是支撐軸進行工作的重要部件，軸瓦一般用優(yōu)質鑄鐵或鑄鋼鑄造，在軸瓦內部車出燕尾槽，并澆以內襯，用于制造滑動軸承內襯的合金稱為軸承合金。汽輪機軸瓦運行中會出現(xiàn)局部脫落現(xiàn)象，整體更換價格昂貴，常用局部補焊的方法進行修復。汽輪機軸瓦在傳統(tǒng)上常用滲透來檢驗烏金復合層的熔合情況,這種檢驗方式對于非開口性的內部脫胎只能采取敲打聽音的經驗來判斷，已越來越不適應我國大功率、高參數(shù)電站軸瓦檢驗的要求。因此，形成一套行之有效的無損檢驗方法，顯得至關重要。采用滲透檢測與超聲波檢測綜合使用的檢驗方法可取的非常好的效果，在最大程度上減少缺陷的漏判和誤判，為安全生產提供有力的保障。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種行之有效的火電廠電機的修復工藝，

步驟1：確定脫胎部位，徹底剔除脫胎部分，并清理軸瓦的凹面，露出金屬光澤，然后用熱堿水清洗若干次，再用清水清洗，用氧乙炔火焰把軸瓦凹面燒一遍，在軸瓦凹面的表面涂上一層稀鹽酸，停留一段時間后用清水沖洗，再用氧乙炔火焰將軸瓦均勻加熱；

步驟2：在加熱中用錫條在瓦胎面上摩擦，隨即用刷刷瓦面，一邊刷一邊加錫條，直到全部軸瓦凹面掛均勻為止；

步驟3：在短時間內及時補焊烏金，把烏金熔化成Ф5～6mm的條狀；加熱鋪錫膜后的瓦面，并用烏金條摩擦，烏金熔化并能與錫熔在一起，然后填加烏金；

步驟4：采用刮削方法恢復修復后軸瓦的原始尺寸，使修復后的軸瓦結合面達到設計要求；

步驟5：對軸瓦表面進行預清洗，施加滲透劑和顯像劑，用鋁舍金試塊和鍍鉻試塊進行探傷檢測，最后對檢測結果進行評定；

步驟6：再用數(shù)字超聲渡探傷儀，小晶片縱波直探頭進行檢測，判定是否有脫胎層缺陷的存在。

步驟1中熱堿水為1％-20％氫氧化鈉或氫氧化鉀，用氧乙炔火焰加熱瓦面的溫度為100℃-350℃；稀鹽酸在瓦胎表面停留的時間為2～8分鐘。

步驟2中錫條直徑為4～6mm，用氧乙炔火焰將瓦胎均勻加熱到250～270℃。

步驟3補焊烏金的厚度不超過烏金條的直徑，寬度為烏金條直徑的2～3倍，堆焊區(qū)溫度為210℃～250℃，非堆焊區(qū)溫度為80℃～100℃，重復操作，最后一層焊道要比軸瓦原始表面高2～3mm。

步驟6中探頭檢測頻率選擇2.1～2.7MHz的低頻檢測頻率，以軸瓦底波波高的80％再增益10dB作為檢測靈敏度，依據檢測程序對軸瓦進行100％的掃查，相鄰兩次掃查應有至少10％的重復掃查重疊區(qū)，對于脫胎層缺陷的面積范圍使用6dB法(半渡高度法)進行測定。

小晶片縱波直探頭型號為2.5P10。