[發明專利]一種顯示基板及具有該顯示基板的顯示裝置

在審

• 申請號: 201410553332.2
• 申請日: 2014-10-17
• 公開（公告）號: CN104267544A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 李佳;盧昱;單慶增;張惠博;郝金剛
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/1339
• 分類號: G02F1/1339
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示基板及具有該顯示基板的顯示裝置。

背景技術

TFT-LCD(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display，薄膜晶體管液晶顯示屏)由薄膜晶體管(Thin?Film?Transistor，TFT)陣列基板和彩膜(Color?Filter，CF)基板對盒而成，TFT基板和CF基板之間填充有液晶，通過控制TFT基板上的電壓變化來驅動液晶的偏轉，從而達到輸出不同畫面的要求。在成盒工藝中，最重要的一步就是對盒(Cell)技術，即將TFT基板和CF基板按照設計要求，在精度范圍內完成對盒。請參考圖1，圖1為TFT基板101和CF基板102的對盒示意圖。而對盒工藝中起到最重要作用，也是最關鍵部分的是用來對位的對位標識(Mark)103。若對位標識103出現問題，例如在TFT基板的摩擦取向過程中因TFT基板上的微小殘留顆粒堆積而在對位標識的邊緣處形成鋸齒狀殘留，對盒必將無法準確完成，從而造成TFT-LCD出現各種不良，如Mura類不良，Zara類不良等。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種顯示基板及具有該顯示基板的顯示裝置，以解決在顯示基板的摩擦取向過程中因顯示基板上的微小殘留顆粒堆積而在對位標識的邊緣處形成鋸齒狀殘留，導致顯示基板對位不準的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供一種顯示基板，包括：位于所述顯示基板的對位區域的對位標識；其特征在于，還包括：位于所述對位標識周邊預設區域的阻隔結構，所述阻隔結構用于阻擋摩擦取向輥摩擦取向時攜帶的殘留顆粒。

優選地，所述阻隔結構為溝壑狀。

優選地，所述阻隔結構包括：多個平行間隔設置的線狀凸起。

優選地，所述阻隔結構還包括：將所述對位標識圍住的矩形框凸起，所述線狀凸起位于所述矩形框凸起內。

優選地，在從遠離所述對位標識至靠近所述對位標識的方向上，所述多個線狀凸起的長度逐漸變短。

優選地，所述線狀凸起的延伸方向與所述摩擦取向輥的前進方向垂直。

優選地，所述阻隔結構包括：多個呈同心分布的圓圈狀凸起，所述對位標識位于所述多個圓圈狀凸起的圓心區域。

優選地，所述阻隔結構包括：多個間隔設置的鋸齒狀凸起。

優選地，所述阻隔結構與所述對位標識具有相同的膜層結構。

優選地，所述阻隔結構包括至少一層金屬層和用于覆蓋所述金屬層的絕緣層。

本發明還提供一種顯示裝置，包括上述顯示基板。

本發明的上述技術方案的有益效果如下：

在對位標識周邊預設區域形成阻隔結構，阻隔結構能夠將摩擦取向輥摩擦取向時攜帶的殘留ITO等微小顆粒提前堆積在所述阻隔結構中，而不影響對位標識的樣貌，從而避免對位標識樣貌改變而導致的對位模糊或對位偏移的問題，使設備順利識別對位標識，完成顯示基板之間的對盒，大幅提高了生產的穩定性與效率，節約了成本。

附圖說明

圖1為現有的TFT基板和CF基板上的對位標識的分布示意圖；

圖2為現有的TFT基板上的對位標識的放大俯視圖；

圖3為完美生產環境下TFT基板無ITO微小殘留顆粒時對位標識的截面示意圖；

圖4為TFT基板有ITO微小殘留顆粒時對位標識的截面示意圖；

圖5為現有的摩擦取向過程示意圖；

圖6為摩擦取向過程中ITO殘留顆粒堆積產生過程示意圖；

圖7為正常的對位標識(左)和具有鋸齒狀殘留的對位標識的比較示意圖；

圖8為本發明實施例的顯示基板的截面圖；

圖9為本發明實施例的阻隔結構對微小殘留顆粒的阻隔效果示意圖；

圖10為本發明實施例一的阻隔結構的俯視圖；

圖11為本發明實施例二的阻隔結構的俯視圖；

圖12為本發明實施例三的阻隔結構的俯視圖；

圖13為本發明實施例四的阻隔結構的俯視圖；

圖14為本發明實施例五的阻隔結構的俯視圖。

附圖標識說明

圖1-7

101??TFT基板

102??CF基板

103??對位標識

301??襯底

302??金屬層

303??絕緣層

401??殘留的ITO微小顆粒

501??摩擦取向輥

圖8-14

801??襯底

802??對位標識