[發(fā)明專利]用于在軋鋼機中加工軋件的方法和設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410552845.1
• 申請日: 2014-10-17
• 公開（公告）號: CN104561518A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發(fā)明（設計）人: 約翰內斯·達格內;漢斯-烏爾里?！だ辗蚶?/a>
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: C21D11/00
• 分類號: C21D11/00;B21B37/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;李慧

1.一種用于在軋鋼機(2)中加工軋件(6)的方法，其中在加工期間用X光射線(X)輻照所述軋件(6)，所述軋鋼機具有至少一個X光檢測器(10)，借助所述X光檢測器測量從所述軋件(6)沿至少一個預定方向(R)衍射的X光射線(X′)的強度(I)，其中所述至少一個X光檢測器(10)布置在預期出現反射的位置中，并且其中根據所述強度(I)測定所述軋件(6)的結構參數的至少一個實際值(S_Ist)，其特征在于，所述軋件具有存在于所述軋件中的晶粒的靜態(tài)取向的多晶結構，并且借助Bragg條件確定預期的所述反射相對于晶粒的所要研究的相的方位。

2.根據權利要求1所述的方法，其中預期出現反射的所述位置根據所述軋件(6)的組織模型來測定。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中將存在于所述軋件(6)中的相的分量測定為所述結構參數的實際值(S_Ist)。

4.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中在至少兩個不同的位置上分別測量從所述軋件(6)衍射的所述X光射線(X′)的所述強度(I)，并且通過比較所測量的所述強度(I)將存在于所述軋件(6)中的所述相的至少一個分量確定作為所述結構參數的實際值(S_Ist)。

5.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中通過將從所述軋件(6)沿所述至少一個預定方向(R)衍射的所述X光射線(X′)的所測量的強度分布與預期的強度分布進行比較來測定所述結構參數的所述實際值(S_Ist)。

6.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中測量沿所述至少一個預定方向(R)衍射的X光射線(X′)的所述強度(I)的時間上的變化曲線，并且由此與所述軋件(6)中的位置(x)相關地測定所述結構參數的所述實際值(S_Ist)的變化。

7.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中測量所述軋件(6)的溫度，并且在測定所述結構參數的所述實際值(S_Ist)時考慮所測量的所述強度(I)與所述溫度的相關性。

8.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中在加工期間測定所述軋件(6)的方位，并且在加工所述軋件(6)期間將至少一個用于產生X光射線的X光源(8)和所述至少一個X光檢測器(10)距所述軋件(6)的間距(d，d′)保持恒定。

9.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中將所述軋件(6)的所述結構參數的所述實際值(S_Ist)與所述結構參數的理論值(S_Soll)進行比較，并且與所述結構參數的所述實際值(S_Ist)和所述理論值(S_Soll)之間的差相關地來影響用于加工所述軋件(6)的至少一個過程參數。

10.根據權利要求9所述的方法，其中根據描繪軋制過程的模型中的一個來匹配所述至少一個過程參數。

11.根據權利要求9或10所述的方法，其中控制所述至少一個過程參數。

12.根據權利要求9至11中的任一項所述的方法，其中調節(jié)所述至少一個過程參數。

13.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中所述結構參數的所述實際值(S_Ist)用于匹配所述組織模型。

14.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中應用單色的X光射線(X)。

15.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中應用白色的X光射線(X)并且執(zhí)行所述強度(I)的能量分散地測量。

16.一種具有至少一個用于產生X光射線(X)的X光源(8)的設備，具有：至少一個X光檢測器(10)，用于測量從軋件(6)沿至少一個預定方向(R)衍射的X光射線(X′)；和控制和評估單元(12)，在所述控制和評估單元中實施用于執(zhí)行根據前述權利要求中的任一項所述的方法的軟件。

17.根據權利要求16所述的設備，其中所述X光源(8)是用于所述軋件(6)的厚度測量的、已經存在的X光源(8)。