[發明專利]用于極端物體條件下的電容測量裝置有效
| 申請號: | 201410552627.8 | 申請日: | 2014-10-20 |
| 公開(公告)號: | CN104316772A | 公開(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發明(設計)人: | 李哲;張元磊;徐坤;曹義明 | 申請(專利權)人: | 曲靖師范學院 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 云南省曲靖市專利事務所 53104 | 代理人: | 許永昌;郎正德 |
| 地址: | 655011 云*** | 國省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 極端 物體 條件下 電容 測量 裝置 | ||
1.一種用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于:包括NF-ZM2353型LCR測量儀(3)、微機終端(1)、變溫變磁裝置;其中變溫變磁裝置中有杜瓦套(8)、低溫腔體(24)、樣品導管(10)、杜瓦蓋(11)、超導線圈(22)、樣品臺接頭(21)和樣品臺(23);
所述杜瓦蓋(11)通過第一法蘭(19)密封地安裝于杜瓦套上端面從而形成一外腔體,此外腔體內有杜瓦瓶(9);在杜瓦蓋(11)中央開有一通孔,低溫腔體(24)下端嵌入杜瓦蓋(11)的通孔內并位于杜瓦瓶(9)內,一真空模塊(13)位于低溫腔體(24)上端,此真空模塊(13)與低溫腔體(24)之間通過密封環(12)連接,所述真空模塊(13)上設置了用于沖入氦氣以清洗低溫腔(24)的氦氣供氣端接口(17)和控磁電路接口(14)的抽氣的真空泵接口(16),超導線圈(22)纏繞于低溫腔體(24)下部的外側面,沿著低溫腔(24)的內壁設有防護層保護下的超導線圈控制電路(20),這些密封的超導線圈控制電路(20)緊貼腔體壁并連接至位于真空模塊(13)處的控磁線路接口(14);
所述樣品導管(10)下端穿過真空模塊(13)與密封環(12)進入到低溫腔體(24)內,樣品導管(10)的上端設有屏蔽電纜接口(15),屏蔽電纜接口(15)用于將樣品導管(10)內部的信號傳輸線路連接至溫度與磁場控制模塊(6);
所述樣品臺(23)分為三層結構,第一層結構(26)包括樣品安裝區域、線路連接通道A和拓展線路連接通道B,第二層結構(27)中裝配有用于控制樣品的實驗溫度的發熱片(32)和用于測溫的熱電偶(31),第三層結構(28)中設計有針腳孔(34);
所述微機終端(1)通過GPIB轉換接口(2)分別與溫度磁場控制模塊(6)、LCR測量儀(3)連接,溫度磁場控制模塊(6)連接到超導線圈(22)和熱電偶(31),LCR測量儀(3)通過三通屏蔽電纜(4)連接到線路連接通道A的負極端(V-)、正極端(V+);第一層結構(26)上的樣品安裝區(36)中安裝樣品平板電容器(37),樣品平板電容器(37)的2個側表面刷制有兩個銀電極(40),兩個銀電極(40)上分別焊接有第一、第二引線(42),此第一、第二引線(42)通道A的負極端(V-)、正極端(V+)。
2.根據權利要求1所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于杜瓦瓶(9)內部裝有超過三分之二的液氦,這些液氦足以完全浸泡超導線圈(22);所述密封環(12)與低溫腔和真空模塊之間的接觸區域涂抹有真空硅脂層。
3.根據權利要求1所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于:變溫變磁裝置中還有限位環(18),此限位環(18)側面具有螺紋面,限位環(18)位于杜瓦蓋(11)和低溫腔體(24)之間,通過旋轉限位環(18)可以使低溫腔體(24)在豎直方向上下移動,并帶動超導線圈(22)移動從而調整超導線圈(22)浸入液氦的深度。
4.根據權利要求1所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于變溫變磁裝置中的低溫腔(24)內安裝有樣品導管(10)、在低溫腔(24)下部外圍安裝有超導線圈(22),在樣品導管(10)的頂端設有傳輸電容信號的屏蔽電纜接口(15),設有樣品臺接頭(21),樣品臺接頭(21)的下端開有樣品臺安裝槽(25),裝接有樣品臺(23);低溫腔(24)內壁鋪設有超導線圈控制電路(20)。
5.根據權利要求1所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于樣品臺接頭(21)的樣品臺安裝槽(25)內設有引線針腳(29)。
6.根據權利要求1或4所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于樣品臺接頭(21)上的安裝槽(25)內設計有限位槽(30)。
7.根據權利要求1或4所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于樣品臺第二層結構(27)中的發熱片(32)與熱電偶(31)形成對稱安裝。
8.根據權利要求1或4所述的用于極端物體條件下的電容測量裝置,其特征在于樣品臺第三層結構(28)上制作有針腳引線焊點(33)和針腳孔(34),針腳引線焊點(33)為樣品臺第一層結構(26)和樣品臺第二層結構(27)中電路的連接點,針腳孔(34)與樣品臺接頭(21)上的引線針腳(29)一一對應。
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