[發(fā)明專利]表面處理壓延銅箔、層壓板、印刷布線板、電子機器及印刷布線板的制造方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410514244.1
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104582244B
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發(fā)明（設計）人: 三木敦史;新井英太;新井康修;中室嘉一郎;青島一貴;冠和樹
• 申請（專利權(quán)）人: JX日礦日石金屬株式會社
• 主分類號: H05K1/02
• 分類號: H05K1/02;H05K1/09;H05K3/38
• 代理公司: 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11314
• 代理人: 程偉

1.一種表面處理壓延銅箔，其在：一個銅箔表面和/或兩個銅箔表面為表面處理面S，對于所述表面處理面S的一面或兩面、或者并非所述表面處理面S的表面，將自{112}面的算出X射線衍射強度設為I{112}，將自{110}面的算出X射線衍射強度設為I{110}時，

滿足2.5≦I{110}/I{112}≦6.0，且是

將所述表面處理壓延銅箔、與貼合于銅箔前的下述ΔB(PI)為50以上65以下的聚酰亞胺從所述表面處理壓延銅箔的所述表面處理面S側(cè)進行層壓而構(gòu)成的覆銅箔層壓板中隔著所述聚酰亞胺的表面的基于JIS Z8730的色差ΔE*ab成為50以上的表面處理壓延銅箔，并且

將所述表面處理壓延銅箔從表面處理面S側(cè)貼合于聚酰亞胺樹脂基板的兩面后，通過蝕刻將所述兩面的壓延銅箔去除，

將印刷有線狀標記的印刷物鋪設于露出的所述聚酰亞胺基板之下，利用CCD攝像機，隔著所述聚酰亞胺基板對所述印刷物進行拍攝時，

在針對通過所述拍攝而獲得的圖像，沿著與所觀察的所述線狀標記延伸的方向垂直的方向，測定每個觀察地點的亮度而制作的觀察地點-亮度曲線中，

將從所述標記的端部至沒有繪制所述標記的部分所產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值Bt減去底部平均值Bb而得到的差設為ΔB，在觀察地點-亮度曲線中，將表示亮度曲線與Bt的交點中最接近所述線狀標記的交點的位置的值設為t1，將表示在以Bt為基準從亮度曲線與Bt的交點至0.1ΔB的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0.1ΔB的交點中最接近所述線狀標記的交點的位置的值設為t2時，下述(1)式所定義的Sv成為3.0以上，

Sv＝(ΔB×0.1)/(t1－t2) (1)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述一個銅箔表面為表面處理面S，且另一個銅箔表面經(jīng)過表面處理。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述壓延銅箔由99.9質(zhì)量％以上的銅形成。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其含有合計10～300質(zhì)量ppm的選自Ag、Sn、Mg、In、B、Ti、Zr及Au的群中的1種或2種以上，且剩余部分由Cu及不可避免的雜質(zhì)組成。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述壓延銅箔含有2～50質(zhì)量ppm的氧。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其在200℃加熱30分鐘后，在至少一個表面滿足I{112}/I{100}≦1.0。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其在350℃加熱1秒鐘后，將所述壓延銅箔的壓延面的{200}面的X射線衍射強度設為I{200}，將純銅粉末試樣的{200}面的X射線衍射強度設為I₀{200}時，

滿足5.0≦I{200}/I₀{200}≦27.0。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其厚度為4～100μm。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述表面處理面S和/或并非所述表面處理面S的銅箔表面的利用激光波長為405nm的激光顯微鏡所測得的TD的十點平均粗糙度Rz為0.35μm以上，所述TD為與壓延方向垂直的方向。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述表面處理面S和/或并非所述表面處理面S的銅箔表面的利用激光波長為405nm的激光顯微鏡所測得的TD的算術(shù)平均粗糙度Ra為0.05μm以上，所述TD為與壓延方向垂直的方向。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述表面處理面S和/或并非所述表面處理面S的銅箔表面的利用激光波長為405nm的激光顯微鏡所測得的TD的均方根高度Rq為0.08μm以上，所述TD為與壓延方向垂直的方向。

12.根據(jù)權(quán)利要求2所述的表面處理壓延銅箔，其中，所述表面處理面S和/或并非所述表面處理面S的銅箔表面的利用激光波長為405nm的激光顯微鏡所測得的TD的十點平均粗糙度Rz為0.35μm以上，所述TD為與壓延方向垂直的方向。