[發明專利]一種對OFDM同步訓練序列進行處理的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410511567.5
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104333526B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 楊帆;李洋;李玉柏;邵懷宗;王文欽
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H04L27/26
• 分類號: H04L27/26
• 代理公司: 成都正華專利代理事務所(普通合伙)51229
• 代理人: 李林合

1.一種對OFDM同步訓練序列進行處理的方法，其特征是，包括：

將所述OFDM同步訓練序列進行多次循環移位得到多個循環移位序列；

在每個所述循環移位序列之前添加循環前綴得到候選序列；

計算所述候選序列的定時度量函數的平均斜率；以及

將所述平均斜率最大的候選序列作為處理后的OFDM同步訓練序列；

其中，所述計算所述候選序列的定時度量函數的平均斜率的步驟進一步包括：

在所述候選序列之前和之后各添加多個零值得到無噪聲序列；

從所述無噪聲序列中的第一個點開始，調整起始位置，依次截取長度等于所述OFDM子載波數的多個子序列；

計算每個所述子序列的定時度量函數；

計算所述定時度量函數中的點與理想定時位置所對應的定時度量函數點之間的斜率；以及

計算所述斜率的平均值得到候選序列的定時度量函數的平均斜率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征是，所述將所述OFDM同步訓練序列進行多次循環移位得到多個循環移位序列的步驟進一步包括：

當循環移位的次數小于OFDM子載波數的一半時，將所述OFDM同步訓練序列每次循環右移一位得到一個所述循環移位序列。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征是，所述計算每個所述子序列的定時度量函數的步驟進一步包括：

針對每個所述子序列，根據其能量和其前后兩半部分的相關值計算粗定時度量函數；以及

將與所述子序列在所述無噪聲序列中的起始位置的差值等于所述循環前綴的長度的另一子序列的粗定時度量函數乘以所述子序列的粗定時度量函數得到所述定時度量函數。

4.一種對OFDM同步訓練序列進行處理的裝置，其特征是，包括：

循環移位模塊，用于將所述OFDM同步訓練序列進行多次循環移位得到多個循環移位序列；

前綴添加模塊，用于在每個所述循環移位序列之前添加循環前綴得到候選序列；

平均斜率計算模塊，用于計算所述候選序列的定時度量函數的平均斜率；以及

同步訓練序列選取模塊，用于將所述平均斜率最大的候選序列作為處理后的OFDM同步訓練序列；

其中，所述平均斜率計算模塊進一步包括：

無噪聲序列生成模塊，用于在所述候選序列之前和之后各添加多個零值得到無噪聲序列；

子序列截取模塊，用于從所述無噪聲序列中的第一個點開始，調整起始位置，依次截取長度等于所述OFDM子載波數的多個子序列；

定時度量函數計算模塊，用于計算每個所述子序列的定時度量函數；

斜率計算模塊，用于計算所述定時度量函數中的點與理想定時位置所對應的定時度量函數點之間的斜率；以及

平均斜率計算模塊，用于計算所述斜率的平均值得到候選序列的定時度量函數的平均斜率。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征是，所述循環移位模塊進一步包括：

用于當循環移位的次數小于OFDM子載波數的一半時，將所述OFDM同步訓練序列每次循環右移一位得到一個所述循環移位序列的模塊。

6.根據權利要求4所述的裝置，其特征是，所述定時度量函數計算模塊進一步包括：

粗定時度量函數計算模塊，用于針對每個所述子序列，根據其能量和其前后兩半部分的相關值計算粗定時度量函數；以及

用于將與所述子序列在所述無噪聲序列中的起始位置的差值等于所述循環前綴的長度另一子序列的粗定時度量函數乘以所述子序列的粗定時度量函數得到所述定時度量函數的模塊。