[發(fā)明專利]一種薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試方法及測(cè)試夾具、裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410498564.2
• 申請(qǐng)日: 2014-09-25
• 公開（公告）號(hào): CN104237752A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李文杰;王劍;宮立軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司;宜興硅谷電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12;G01R1/04
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 劉培培

1.一種薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試裝置，其特征在于，包括耐壓測(cè)試儀、第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板，所述耐壓測(cè)試儀的正極通過導(dǎo)線與所述第一導(dǎo)電板電連接，所述耐壓測(cè)試儀的負(fù)極通過導(dǎo)線與所述第二導(dǎo)電板電連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板的側(cè)邊均鋪設(shè)絕緣材料，當(dāng)所述第一導(dǎo)電板與第二導(dǎo)電板疊放在一起時(shí)，所述絕緣材料將第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板隔離開。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板可轉(zhuǎn)動(dòng)連接，且所述第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板之間通過絕緣件連接。

4.一種薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試方法，其特征在于，采用了如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試裝置，包括如下步驟：

將待測(cè)的薄芯板放在第一導(dǎo)電板與第二導(dǎo)電板之間，使薄芯板的兩側(cè)面分別與第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板電性接觸；

用耐壓測(cè)試儀對(duì)第一導(dǎo)電板、第二端導(dǎo)電板施加電壓；

獲取第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板間的測(cè)試漏電流或測(cè)試絕緣電阻；

根據(jù)測(cè)試漏電流或測(cè)試絕緣電阻來判斷薄芯板是否存在短路風(fēng)險(xiǎn)以及短路。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試方法，其特征在于，所述施加電壓根據(jù)薄芯板的厚度設(shè)置，并隨著薄芯板的厚度增大而增大。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)測(cè)試漏電流或測(cè)試絕緣電阻來判斷薄芯板是否存在短路風(fēng)險(xiǎn)以及短路的具體步驟包括：

當(dāng)測(cè)試漏電流高于預(yù)設(shè)漏電流或測(cè)試絕緣電阻低于預(yù)設(shè)絕緣電阻值時(shí)，則表示薄芯板存在短路風(fēng)險(xiǎn)以及短路；

當(dāng)測(cè)試漏電流低于預(yù)設(shè)漏電流或測(cè)試絕緣電阻高于預(yù)設(shè)絕緣電阻值時(shí)，則表示薄芯板正常。

7.一種薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試夾具，其特征在于，包括所述第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板，所述第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板可轉(zhuǎn)動(dòng)連接，且所述第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板之間通過絕緣件連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試夾具，其特征在于，所述第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板的側(cè)邊均鋪設(shè)絕緣材料，當(dāng)所述第一導(dǎo)電板與第二導(dǎo)電板疊放在一起時(shí)，所述絕緣材料將第一導(dǎo)電板與所述第二導(dǎo)電板隔離開。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的薄芯板層間短路風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試夾具，其特征在于，所述第一導(dǎo)電板、第二導(dǎo)電板均分別設(shè)置有測(cè)試端點(diǎn)。