[發(fā)明專利]一種MEMS麥克風及其制作方法和電子裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410493916.5 | 申請日: | 2014-09-24 |
| 公開(公告)號: | CN105502277A | 公開(公告)日: | 2016-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭超;李衛(wèi)剛 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | B81B7/02 | 分類號: | B81B7/02;B81C1/00;H04R19/04 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務(wù)所 11336 | 代理人: | 董巍;高偉 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 mems 麥克風 及其 制作方法 電子 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導體技術(shù)領(lǐng)域,具體而言涉及特別涉及一種MEMS 麥克風及其制作方法和電子裝置。
背景技術(shù)
MEMS麥克風是迄今最成功的MEMS產(chǎn)品之一,其通過與集成 電路制作兼容的表面加工或體硅加工工藝制作的麥克風,由于可以利 用持續(xù)微縮的CMOS工藝技術(shù),MEMS麥克風可以做的很小,使得 它可以被廣泛地應(yīng)用到手機、筆記本電腦、平板電腦和攝像機等便攜 設(shè)備中。
MEMS麥克風一般是電容式的,其中振動膜(下電極)固定形 成于襯底上,與襯底背面的開口相對,定極板(上電極)則懸空設(shè)置 在振動膜上方。振動膜與定極板之間為密封空腔,麥克風產(chǎn)品則是由 振動膜的震動導致密封空腔內(nèi)空間變化產(chǎn)生信號差,電路通過捕捉電 容變化量進行信號的識別和處理,然而因此帶來的信號干擾是亟待需 要改進和解決的問題。
目前一般采用深反應(yīng)離子刻蝕(DeepReactiveIonEtching,簡稱 DRIE)的方法來刻蝕襯底背面,以形成開口暴露振動膜,然而深反 應(yīng)離子刻蝕由于刻蝕深度大,很容易導致刻蝕后開口尺寸的均勻性 差,進而影響麥克風的聲噪比,使麥克風的性能降低。
因此,需要一種新的MEMS麥克風的制作方法,以解決現(xiàn)有技 術(shù)中存在的問題。
發(fā)明內(nèi)容
在發(fā)明內(nèi)容部分中引入了一系列簡化形式的概念,這將在具體實 施方式部分中進一步詳細說明。本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容部分并不意味著要 試圖限定出所要求保護的技術(shù)方案的關(guān)鍵特征和必要技術(shù)特征,更不 意味著試圖確定所要求保護的技術(shù)方案的保護范圍。
為了克服目前存在的問題,本發(fā)明實施例一提供一種MEMS麥 克風的制作方法,包括:
提供半導體襯底,在所述半導體襯底的正面形成有犧牲層,在所 述犧牲層內(nèi)形成有被所述犧牲層包圍的振動膜,在所述犧牲層上與所 述振動膜對應(yīng)的區(qū)域形成有若干定極板;
對所述半導體襯底的背面進行激光切割,直到暴露所述犧牲層, 以形成切割口,其中,所述切割口位于所述半導體襯底背面對應(yīng)所述 定極板的區(qū)域邊緣;
在所述半導體襯底的背面和所述切割口內(nèi)形成圖案化的光刻膠 層,暴露所述切割口內(nèi)側(cè)的所述半導體襯底;
以圖案化的光刻膠層為掩膜,刻蝕半導體襯底的背面,直到暴露 犧牲層,形成腔體;
去除所述振動膜中間部位上方和下方的所述犧牲層,以在所述定 極板和所述振動膜之間形成空腔。
可選地,在進行所述激光切割之前,還包括在所述半導體襯底的 背面定義激光切割標記的步驟,其中所述激光切割標記位于所述半導 體襯底背面對應(yīng)所述定極板的區(qū)域邊緣。
可選地,所述激光切割的深度為370~390μm。
可選地,所述刻蝕為干法刻蝕。
可選地,所述干法刻蝕為深反應(yīng)離子刻蝕。
可選地,所述腔體為圓柱形。
可選地,所述振動膜和所述定極板的材料為導電材料。
可選地,所述導電材料選自鋁、鎢、銅、摻雜的多晶硅或非晶硅、 硅鍺中的一種或幾種。
可選地,所述若干定極板相互間隔。
可選地,在間隔的所述定極板之間還形成有限位結(jié)構(gòu),所述限位 結(jié)構(gòu)的一部分位于所述犧牲層內(nèi)。
本發(fā)明實施例二提供一種采用上述的制作方法制得的MEMS麥 克風。
本發(fā)明實施例三提供一種電子裝置,包括前述的MEMS麥克風。
綜上所述,根據(jù)本發(fā)明的制作方法,首先通過激光切割半導體襯 底的背面,再利用深反應(yīng)離子刻蝕刻蝕半導體襯底的背面形成腔體, 改善了干法刻蝕中產(chǎn)生的腔體尺寸均勻性差的問題,提高了微型麥克 風的聲噪比性能,進而提高了產(chǎn)品的整體性能和良率。
附圖說明
本發(fā)明的下列附圖在此作為本發(fā)明的一部分用于理解本發(fā)明。附 圖中示出了本發(fā)明的實施例及其描述,用來解釋本發(fā)明的原理。
附圖中:
圖1A-1D示出了現(xiàn)有一個實施方式來制作MEMS麥克風藝過程 中各步驟所獲得的器件的剖視圖;
圖2A-2F示出了本發(fā)明一個實施方式來制作MEMS麥克風的工 藝過程中各步驟所獲得的器件的剖視圖;
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明一個實施方式來制作MEMS麥克風的工 藝流程圖。
具體實施方式
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