[發明專利]坐標測量設備

有效

• 申請號: 201410478687.X
• 申請日: 2014-09-18
• 公開（公告）號: CN104457609B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: 山縣正意
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種坐標測量設備，其具有非接觸型的探測器，非接觸型的所述探測器包括：

照射光學系統，用于向工件照射沿著預定平面的光；

攝像設備，其具有配置在攝像面上的多個攝像元件，并且用于從與所述預定平面上的位置不同的位置對所述工件進行攝像；以及

控制器，用于響應于所述攝像設備的輸出信號來控制所述照射光學系統，

其中，所述控制器被配置為判斷所述攝像面上的預定的攝像區域中所配置的攝像元件是否檢測到由于來自所述照射光學系統的照射光而入射到所述工件的表面上的入射光，

在所述攝像區域內所配置的攝像元件檢測到所述入射光的情況下，所述控制器使從所述照射光學系統所照射的照射光點亮，以利用所述照射光進行所述工件的坐標測量，以及

在所述攝像區域內所配置的攝像元件沒有檢測到所述入射光的情況下，所述控制器使從所述照射光學系統所照射的照射光按預定周期進行閃爍，以利用所述照射光的閃爍來指示所述探測器和所述工件之間的距離不適當，

其中，所述攝像設備在所述攝像區域內所配置的攝像元件檢測到所述入射光的情況下的攝像幀頻高于在所述攝像區域內所配置的攝像元件沒有檢測到所述入射光的情況下的攝像幀頻，

其中，所述控制器還被配置為根據在預定的監視區域中檢測到所述入射光的攝像元件的位置，檢測所述探測器和所述工件之間的距離，其中所述監視區域比所述攝像面上的預定的所述攝像區域寬，以及

在所述攝像區域中所配置的攝像元件沒有檢測到所述入射光的情況下，所述控制器使從所述照射光學系統所照射的照射光按與所檢測到的距離相對應的周期進行閃爍，

其中，所述坐標測量設備能夠在第一選擇操作模式和第二選擇操作模式下進行工作，

所述控制器還被配置為檢測所述攝像區域中所配置的各攝像元件的光接收量，

在所述第一選擇操作模式中，在所述攝像區域內所配置的攝像元件中存在光接收量大于閾值的攝像元件的情況下，所述控制器使從所述照射光學系統所照射的照射光點亮，并且在所述攝像區域內所配置的攝像元件中不存在光接收量大于閾值的攝像元件的情況下，所述控制器使從所述照射光學系統所照射的照射光按預定周期進行閃爍，以及

在所述第二選擇操作模式中，

在所述攝像區域中的各攝像元件接收光時，在存在光接收量飽和的攝像元件的情況下，所述控制器減少下一光接收期間從所述照射光學系統所照射的照射光的光強度，并且在不存在光接收量飽和的攝像元件的情況下，所述控制器增加下一光接收期間從所述照射光學系統所照射的照射光的光強度，以及

進一步，在所述攝像元件接收光時，在從所述照射光學系統所照射的照射光的光強度達到最大強度、并且光接收量為閾值以下的情況下，所述控制器將下一光接收期間從所述照射光學系統所照射的照射光的光強度設置為最小強度。

2.根據權利要求1所述的坐標測量設備，其中，所述第一選擇操作模式是手動操作所述探測器以執行測量的手動操作測量模式，而所述第二選擇操作模式是自動操作所述探測器以執行測量的自動操作測量模式。