[發明專利]一種EVA交聯率的測試方法有效
| 申請號: | 201410467898.3 | 申請日: | 2014-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN104347447B | 公開(公告)日: | 2017-03-08 |
| 發明(設計)人: | 王永飛;陳軍;沈堅 | 申請(專利權)人: | 阿特斯(中國)投資有限公司;常熟阿特斯陽光電力科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙)32235 | 代理人: | 秦蕾 |
| 地址: | 215300 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 eva 交聯 測試 方法 | ||
1.一種EVA交聯率的測試方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
S1:將同一規格的EVA樣品分為兩個完全相同的樣品組,分別標識為第一樣品組、第二樣品組,所述第一樣品組與第二樣品組對應包含有若干不同層壓條件得到的EVA樣品;
S2:采用化學法對第一樣品組的樣品進行交聯率測試,獲得第一樣品組中不同層壓條件對應的EVA樣品的交聯率數據;
S3:對第二樣品組的樣品進行力學性能測試,獲得第二樣品組中不同層壓條件對應的EVA樣品的力學性能參數;
S4:得到該規格EVA樣品在不同層壓條件下的交聯率和力學性能參數的一一對應關系;?
S5:獲取與上述EVA樣品同一規格的待測EVA產品,并對所述EVA產品進行力學性能測試以獲取力學性能參數;?
S6:將S5中待測EVA產品的層壓條件及力學性能參數與S4獲取的對應關系進行比對,即可得到待測EVA產品的交聯率數值。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:S4步驟還包括根據所述對應關系在坐標軸中對數據進行擬合得到連續的擬合曲線,其中S6步驟中的待測EVA產品的交聯率數值具體為根據該擬合曲線獲取。
3.根據權利要求1所述的方法,采用化學法對第一樣品組的樣品進行交聯率測試,具體包括:?
提供一網袋,并獲取該網袋質量為W1;
取第一樣品組中的一EVA樣品并切成大小均勻的顆粒后放入所述網袋,獲取網袋與EVA樣品的總質量為W2;
將裝有樣品的網袋浸沒在萃取溶液中,加熱至萃取溶液沸騰,萃取溶液回流速度大于40滴/分,保溫萃取3小時,完成后將網袋置于燒瓶中冷卻;
取出網袋風干十分鐘至半小時,再將網袋置于干燥箱中烘烤1小時,干燥箱溫度設定為120度,后再將網袋放入裝有變色硅膠的干燥劑中干燥15分鐘;
獲取干燥后的網袋質量W3;
采用公式[1-(W2-W3)/(W2-W1)]*100%得到該EVA樣品的交聯率數值。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于:所述萃取溶液包括二甲苯、2,6-二叔丁基對甲酚。
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于:所述擬合曲線的縱坐標軸為EVA樣品的交聯率。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于:所述擬合曲線的橫坐標為EVA樣品的拉伸模量。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于:所述擬合曲線的橫坐標軸上某一坐標值只對應一個擬合曲線上的點,且由擬合曲線上的點得到單一的縱坐標值。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





