[發(fā)明專(zhuān)利]微機(jī)電反射體及用于制造微機(jī)電反射體的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410457664.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104252039B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | J·賴(lài)因穆特 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G02B26/08 | 分類(lèi)號(hào): | G02B26/08;B81C1/00 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
| 地址: | 德國(guó)斯*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微機(jī) 反射 用于 制造 方法 | ||
1.一種微機(jī)電反射體,其具有:
一個(gè)電極襯底(3),所述電極襯底具有第一表面和與所述第一表面相對(duì)置的第二表面,在所述電極襯底的第一表面上布置單晶硅層(1);
多個(gè)電極凹槽(15),其從第二表面開(kāi)設(shè)到所述電極襯底(3)中;
至少一個(gè)扭轉(zhuǎn)彈簧結(jié)構(gòu)(7),其構(gòu)造在所述單晶硅層(1)中在所述電極凹槽(15)中的一個(gè)之上;
一個(gè)載體襯底(16),所述載體襯底設(shè)置在所述電極襯底(3)的第二表面上;和
一個(gè)反射體表面(R),其布置在所述單晶硅層(1)上,
其中,通過(guò)所述電極凹槽(15)形成至少一個(gè)通過(guò)所述扭轉(zhuǎn)彈簧結(jié)構(gòu)(7)可運(yùn)動(dòng)地支承在所述電極襯底(3)中的第一電極(M)和至少一個(gè)與所述載體襯底(16)和所述單晶硅層(1)機(jī)械固定地錨定的第二電極(F),其中,所述第一電極(M)的和所述第二電極(F)的電極面彼此平行地垂直于所述電極襯底(3)的表面地布置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機(jī)電反射體,所述微機(jī)電反射體還具有
一個(gè)氧化物層(2),其構(gòu)造在所述單晶硅層(1)和所述電極襯底(3)之間;和
至少一個(gè)穿過(guò)所述單晶硅層(1)和所述氧化物層(2)的導(dǎo)電的覆鍍通孔(5b),通過(guò)所述氧化物層所述第一電極(M)與所述單晶硅層(1)導(dǎo)電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機(jī)電反射體,其中,所述載體襯底(16)通過(guò)金屬鍵合材料與所述電極襯底(3)連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微機(jī)電反射體,其中,從所述載體襯底(16)的背離所述電極襯底(3)的表面穿過(guò)所述載體襯底(16)構(gòu)造硅覆鍍通孔(25)直至所述金屬鍵合材料。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微機(jī)電反射體,其中,所述載體襯底(16)在面向所述電極襯底(3)的表面上具有氧化物層(17),所述氧化物層在所述硅覆鍍通孔(25)的區(qū)域中橫向超出所述硅覆鍍通孔(25)的延伸在所述載體襯底(16)上延伸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的微機(jī)電反射體,其中,所述第一電極(M)圓柱形構(gòu)造。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的微機(jī)電反射體,其中,構(gòu)造有四個(gè)第二電極(F),所述四個(gè)第二電極圍繞圓柱形的第一電極(M)對(duì)稱(chēng)布置。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的微機(jī)電反射體,所述微機(jī)電反射體還具有:至少一個(gè)輔助電極(C),所述至少一個(gè)輔助電極通過(guò)所述電極凹槽(15)構(gòu)造在所述第二電極(F)的背離所述第一電極(M)的一側(cè)上,并且所述至少一個(gè)輔助電極與所述第二電極(F)豎直間隔開(kāi)地布置。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的微機(jī)電反射體,其中,在所述單晶硅層(1)上施加金屬鍵合材料(13)、與所述金屬鍵合材料(13)連接的隔件(12)和布置在所述隔件(12)上的鏡元件(11),其中,在所述鏡元件(11)的背離所述隔件(12)的一側(cè)上施加反射體表面(R)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的微機(jī)電反射體,其中,所述鏡元件(11)具有橫向延展,所述橫向延展在所述電極襯底(3)的襯底平面中延伸超出所述扭轉(zhuǎn)彈簧結(jié)構(gòu)(7)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的微機(jī)電反射體,其中,所述載體襯底(16)和/或所述電極襯底(3)具有SOI襯底。
12.一種用于制造微機(jī)電反射體的方法,所述方法具有下列步驟:
穿過(guò)構(gòu)造在電極襯底(3)上的氧化物層(2)和構(gòu)造在所述氧化物層(2)上的單晶硅層(1)構(gòu)造導(dǎo)電的覆鍍通孔(5b);
在所述單晶硅層(1)中構(gòu)造至少一個(gè)扭轉(zhuǎn)彈簧結(jié)構(gòu)(7);
在所述電極襯底(3)的背離所述單晶硅層(1)的表面中構(gòu)造電極凹槽(15),以便通過(guò)所述電極凹槽(15)形成至少一個(gè)通過(guò)所述扭轉(zhuǎn)彈簧結(jié)構(gòu)(7)可運(yùn)動(dòng)地支承在所述電極襯底(3)中的第一電極(M)和至少一個(gè)與所述單晶硅層(1)機(jī)械固定地錨定的第二電極(F),其中,所述第一電極(M)的和所述第二電極(F)的電極面彼此平行地垂直于所述電極襯底(3)的表面地布置;
在所述電極襯底(3)的背離所述單晶硅層(1)的表面上施加載體襯底(16);并且
在所述單晶硅層(1)上方施加反射體表面(R)。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于羅伯特·博世有限公司,未經(jīng)羅伯特·博世有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410457664.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 微機(jī)相互監(jiān)視系統(tǒng)及微機(jī)相互監(jiān)視方法
- 一種運(yùn)載火箭測(cè)發(fā)控流程指揮系統(tǒng)及方法
- 微機(jī)電變焦鏡頭模塊及其微機(jī)電制動(dòng)器
- 微機(jī)電變焦鏡頭模塊及其微機(jī)電制動(dòng)器
- 微機(jī)電系統(tǒng)芯片晶圓及系統(tǒng)封裝方法、以及微機(jī)電系統(tǒng)
- 一種電變焦鏡頭模塊及其電制動(dòng)器
- 一種微機(jī)電可動(dòng)式鏡頭模塊及其微機(jī)電制動(dòng)器
- 微機(jī)械超聲換能器
- 一種微機(jī)械陀螺測(cè)量單元
- 一種低成本微慣性測(cè)量陣列
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法





