[發明專利]基于雙干涉儀的自由落體絕對重力測量方法及系統有效
| 申請號： | 201410455839.4 | 申請日： | 2014-09-09 |
| 公開（公告）號： | CN104199116B | 公開（公告）日： | 2017-01-04 |
| 發明（設計）人： | 馮金揚 | 申請（專利權）人： | 中國計量科學研究院 |
| 主分類號： | G01V7/14 | 分類號： | G01V7/14 |
| 代理公司： | 北京中創陽光知識產權代理有限責任公司11003 | 代理人： | 尹振啟 |
| 地址： | 100013 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 干涉儀 自由落體 絕對 重力 測量方法 系統 | ||
【說明書】：
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