[發(fā)明專利]非制冷光子型硅基紅外探測器芯片及其制備方法和應(yīng)用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410453615.X | 申請日: | 2014-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN104282792A | 公開(公告)日: | 2015-01-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙利;莊軍;李寧;董曉;朱震;邵和助 | 申請(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/101 | 分類號: | H01L31/101;H01L31/0288;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制冷 光子 型硅基 紅外探測器 芯片 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.?一種非制冷光子型硅基紅外探測器芯片,其特征在于結(jié)構(gòu)自上而下依次為:
n+重摻雜微結(jié)構(gòu)層;
硅表面的錐體結(jié)構(gòu);
n型硅片;
所述n型硅片為晶向(100)、(110)或(111)的n型單晶硅片,雙面拋光,厚度為300-500?μm,電阻率為1000-5000?Ω·cm。
2.?一種制備如權(quán)利要求1所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片的制備方法,其特征在于具體步驟如下:
(1)選擇晶向為(100)、(110)或(111)的n型單晶硅片,并進行清洗;
(2)將清洗后的n型單晶硅片,置于含氮元素的密閉氣體氛圍中,用超快激光輻照所述n型單晶硅片的一面,在該面的表面形成微米量級呈準(zhǔn)周期性排列的結(jié)構(gòu),即錐體結(jié)構(gòu);由于氮元素的超飽和重摻雜作用,在所述錐體結(jié)構(gòu)表層形成n+重摻雜微結(jié)構(gòu)層;
(3)將表面形成有錐體結(jié)構(gòu)的n型單晶硅片置于快速熱退火爐中退火;
(4)退火后,在n+重摻雜微結(jié)構(gòu)層表面磁控濺射一層AZO薄膜,作為正面電極;
(5)再在n型單晶硅片的另一面用磁控濺射的方法濺射一層ITO薄膜,作為背面電極。
3.?如權(quán)利要求2所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片的制備方法,其特征在于步驟(2)中所述的超快激光為飛秒激光、皮秒激光或納秒激光。
4.?如權(quán)利要求2所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片的制備方法,其特征在于步驟(2)中所述的密閉氣體為三氟化氮或氮氣,密閉氣體氛圍的壓強為60~80?kPa。
5.?如權(quán)利要求2所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片的制備方法,其特征在于步驟(3)中的所述退火溫度為600-1400?K,退火時間為1-30?min。
6.?如權(quán)利要求2所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片的制備方法,其特征在于步驟(4)和步驟(5)中所述的AZO薄膜和ITO薄膜的厚度為10-100?nm。
7.?如權(quán)利要求1所述的非制冷光子型硅基紅外探測器芯片在紅外探測器中的應(yīng)用。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





