[發明專利]一種電子白板軌跡平滑方法和裝置

在審

• 申請號: 201410436032.6
• 申請日: 2014-08-29
• 公開（公告）號: CN105468180A
• 公開（公告）日: 2016-04-06
• 發明（設計）人: 徐協增;王志勇;盧肇川
• 申請（專利權）人: 深圳市鴻合創新信息技術有限責任公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/0488
• 代理公司: 深圳市君盈知識產權事務所(普通合伙) 44315
• 代理人: 張丕陽

技術領域

本發明涉及電子白板技術領域，具體涉及一種電子白板軌跡平滑方法和裝置。

背景技術

交互式電子白板是一種先進的教育或會議輔助人機交互設備，它可以配合投影機、電腦等工具，實現無塵書寫、隨意書寫、遠程交流等功能。從結構外形看有正投式、背投式、以及書寫板等多種形態；從硬件原理上來說，交互式電子白板融合了大屏幕投影技術、精確定位的測試技術等。現階段的國際或國內市場上，有多種技術可以實現電子白板精確定位，具有代表性的是紅外線、電磁感應、電容、超聲波、CCD等技術，每種技術都有不同的特點和優勢，在市場上占有一定的份額。

電子白板上的移動觸摸軌跡都需要進行平滑處理，否則顯示出來的軌跡曲線會嚴重失真。現有技術的電子白板軌跡平滑方法多采用多點坐標平均法來確定軌跡上的延伸點的坐標，該方法的缺點是用來平均的點數固定，如果點與點的距離過大，計算后的軌跡延伸點就會產生嚴重的畸變，背離實際的移動軌跡。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，針對現有技術的不足，提供一種電子白板軌跡平滑方法和裝置，克服現有技術的電子白板軌跡平滑方法采用多點坐標平均法來確定軌跡上的延伸點的坐標，有可能造成延伸點位置畸變的缺陷。

本發明為解決上述技術問題所采用的技術方案為：

一種電子白板軌跡平滑方法，包括步驟：

A1、對觸摸屏上移動軌跡第一點位置進行采樣，存儲第一點的采樣坐標，并將該采樣坐標設為平滑坐標；

A2、設定距離閾值；

A3、依次對觸摸屏上移動軌跡后續點位置進行采樣得到采樣坐標，同時確定與當前采樣坐標的前一采樣坐標的橫坐標距離小于所述距離閾值的采樣坐標得到平均采樣坐標及所述平均采樣坐標個數；

A4、將所述平均采樣坐標個數加1得到平均點數，累加所述平均采樣坐標的橫坐標，加上當前采樣坐標的橫坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的橫坐標，累加所述平均采樣坐標的縱坐標，加上當前采樣坐標的縱坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的縱坐標。

一種電子白板軌跡平滑方法，包括步驟：

A1、對觸摸屏上移動軌跡第一點位置進行采樣，存儲第一點的采樣坐標，并將該采樣坐標設為平滑坐標；

A2、設定距離閾值；

A3、依次對觸摸屏上移動軌跡后續點位置進行采樣得到采樣坐標，同時確定與當前采樣坐標的前一采樣坐標的縱坐標距離小于所述距離閾值的采樣坐標得到平均采樣坐標及所述平均采樣坐標個數；

A4、將所述平均采樣坐標個數加1得到平均點數，累加所述平均采樣坐標的橫坐標，加上當前采樣坐標的橫坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的橫坐標，累加所述平均采樣坐標的縱坐標，加上當前采樣坐標的縱坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的縱坐標。

一種電子白板軌跡平滑方法，包括步驟：

A1、對觸摸屏上移動軌跡第一點位置進行采樣，存儲第一點的采樣坐標，并將該采樣坐標設為平滑坐標；

A2、設定距離閾值；

A3、依次對觸摸屏上移動軌跡后續點位置進行采樣得到采樣坐標，同時確定與當前采樣坐標的前一采樣坐標的距離小于所述距離閾值的采樣坐標得到平均采樣坐標及所述平均采樣坐標個數；

A4、將所述平均采樣坐標個數加1得到平均點數，累加所述平均采樣坐標的橫坐標，加上當前采樣坐標的橫坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的橫坐標，累加所述平均采樣坐標的縱坐標，加上當前采樣坐標的縱坐標，再除以所述平均點數，得到當前采樣坐標對應的平滑坐標的縱坐標。

一種電子白板軌跡平滑方法，包括步驟：

A1、對觸摸屏上移動軌跡第一點位置進行采樣，存儲第一點的采樣坐標，并將該采樣坐標設為平滑坐標；

A2、設定距離閾值和點數閾值；

A3、依次對觸摸屏上移動軌跡后續點位置進行采樣得到采樣坐標，同時查找與當前采樣坐標的前一采樣坐標的橫坐標距離小于所述距離閾值的采樣坐標得到平均采樣坐標，累加所述平均采樣坐標的個數得到平均采樣坐標個數，每一次計算后都判斷所述平均采樣坐標個數是否大于所述點數閾值，如果是，則將所述點數閾值賦值給所述平均采樣坐標個數，停止查找過程；