[發明專利]基于太赫茲頻段的物品特征提取方法和裝置

在審

• 申請號: 201410432472.4
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN104266993A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 孫金海;蔡禾;張少華
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01N21/3586
• 分類號: G01N21/3586
• 代理公司: 北京君恒知識產權代理事務所(普通合伙) 11466
• 代理人: 林月俊;黃啟行

1.一種基于太赫茲頻段的物品特征提取方法，其特征在于，包括：

將待測的物品放置于太赫茲光路中，測量其太赫茲時域波形數據；

對得到的太赫茲時域波形數據進行快速傅里葉變換，得到所述物品的太赫茲頻域波形數據；

根據所述物品的太赫茲頻域波形數據以及參考太赫茲頻域波形數據，計算出所述物品的吸收譜數據作為提取出的所述物品的特征數據；

其中，所述參考太赫茲頻域波形數據是預先計算得到的：在所述太赫茲光路中，測量沒有所述待測物品的情況下的太赫茲時域波形數據，作為參考太赫茲時域波形數據；將所述參考太赫茲時域波形數據進行快速傅里葉變換，得到所述參考太赫茲頻域波形數據。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述物品的太赫茲頻域波形數據以及參考太赫茲頻域波形數據，計算出所述物品的吸收譜數據，具體包括：

針對所述物品的太赫茲頻域波形數據中的每個頻點，根據所述物品的太赫茲頻域波形數據、以及參考太赫茲頻域波形數據在該頻點的fft幅值，計算所述物品在該頻點的吸收系數；

由計算得到的所述物品在各頻點的吸收系數組成所述物品的吸收譜數據。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述物品的太赫茲頻域波形數據、以及參考太赫茲頻域波形數據在該頻點的fft幅值，計算所述物品在該頻點的吸收系數，具體為：

根據如下公式7，計算所述物品在該頻點ω的吸收系數α(ω)：

α(ω)=1d·ln(Ir(ω)Is(ω))]]>…………………………(公式7)

其中，d為所述物品沿太赫茲頻段的電磁波入射方向的厚度；I_r(ω)、I_s(ω)分別表示所述參考太赫茲頻域波形數據在頻點ω的fft幅值的平方、所述物品的太赫茲頻域波形數據在頻點ω的fft幅值的平方。

4.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述計算出所述物品的吸收譜數據后，還包括：

從所述違禁樣品的吸收譜數據的各波峰中選取出特征峰，將選取出的特征峰的數據也作為提取出的所述物品的特征數據進行存儲。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述從所述違禁樣品的吸收譜數據的各波峰中選取出特征峰，具體包括：

選取所述違禁樣品的吸收譜數據的各波峰中峰值最高的波峰作為特征峰；或者

針對所述違禁樣品的吸收譜數據的每個波峰，以該波峰為中心的設定頻段，若該波峰的峰值最高，則將該波峰作為特征峰。

6.如權利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，在所述計算出所述物品的吸收譜數據作為提取出的所述物品的特征后，還包括：

將所述物品的特征數據與預先提取的若干樣品的特征數據進行比較，以對所述物品進行識別。