[發明專利]基于太赫茲頻段的標準品特征數據庫建立方法和裝置

在審

• 申請號: 201410430835.0
• 申請日: 2014-08-27
• 公開（公告）號: CN104392084A
• 公開（公告）日: 2015-03-04
• 發明（設計）人: 賈雨生;鐘華;張少華;孫金海;蔡禾
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京君恒知識產權代理事務所(普通合伙) 11466
• 代理人: 林月俊;黃啟行

1.一種基于太赫茲頻段的標準品特征數據庫建立方法，其特征在于，包括：

針對每種違禁物品，提取該種違禁物品的標準品基于太赫茲頻段的特征數據：

將該種違禁物品的標準品放置于太赫茲光路中，測量該標準品的太赫茲時域波形數據；對得到的太赫茲時域波形數據進行快速傅里葉變換，得到該標準品的太赫茲頻域波形數據；根據該標準品的太赫茲頻域波形數據以及參考太赫茲頻域波形數據，計算出該標準品的吸收譜數據；從該標準品的吸收譜數據中確定出該標準品的特征峰數據后，將該標準品的特征峰數據作為提取出的該種違禁物品的標準品的特征數據；

將提取出的各種違禁物品的標準品的特征數據存儲到所述標準品特征數據庫中；

其中，所述參考太赫茲頻域波形數據是預先計算得到的：在所述太赫茲光路中，測量沒有任何標準品的情況下的太赫茲時域波形數據，作為參考太赫茲時域波形數據；將所述參考太赫茲時域波形數據進行快速傅里葉變換，得到所述參考太赫茲頻域波形數據。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據該標準品的太赫茲頻域波形數據以及參考太赫茲頻域波形數據，計算出該標準品的吸收譜數據，具體包括：

針對該標準品的太赫茲頻域波形數據中的每個頻點，根據該標準品的太赫茲頻域波形數據、以及參考太赫茲頻域波形數據在該頻點的fft值，計算該標準品在該頻點的吸收系數；

由計算得到的該標準品在各頻點的吸收系數組成該標準品的吸收譜數據。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據該標準品的太赫茲頻域波形數據、以及參考太赫茲頻域波形數據在該頻點的fft值，計算該標準品在該頻點的吸收系數，具體包括：

根據如下公式1計算出該標準品在該頻點的吸收系數α_j：

αj=-ln|fftj(sam,2m)fftj(ref,2m)|2]]>…………………………(公式1)

其中，j為0到2^m-1之間的非負整數，fft_j(sam,2^m)、fft_j(ref,2^m)分別表示該標準品的太赫茲頻域波形數據、參考太赫茲頻域波形數據在頻點ω_j的fft值，ω_j表示該標準品的太赫茲頻域波形數據中的該頻點。

4.如權利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述從該標準品的吸收譜數據中確定出該標準品的特征峰數據，具體包括：

選取該標準品的吸收譜數據的各波峰中峰值最高的波峰的數據作為該標準品的特征峰數據；或者

針對所述違禁標準品的吸收譜數據的每個波峰，以該波峰為中心的設定頻段，若該波峰的峰值最高，則將該波峰的數據作為該標準品的特征峰數據。

5.如權利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，在所述將提取出的各種違禁物品的標準品的特征數據存儲到所述標準品特征數據庫前，還包括：

對于每種違禁物品，將該種違禁物品的標準品的吸收譜數據也作為該種違禁物品的標準品的特征數據。