[發明專利]確定稀疏微波成像方位向采樣序列的方法

有效

• 申請號: 201410415740.1
• 申請日: 2014-08-21
• 公開（公告）號: CN104142500A
• 公開（公告）日: 2014-11-12
• 發明（設計）人: 蔣成龍;趙曜;張冰塵;洪文
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01S13/89
• 分類號: G01S13/89
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 曹玲柱

1.一種確定稀疏微波成像方位向采樣序列的方法，其特征在于，包括：

步驟A：由稀疏微波成像系統的指標要求確定其方位向采樣率f_p；

步驟B：根據方位向采樣率f_p確定稀疏微波成像方位向采樣優化準則；以及

步驟C，根據稀疏微波成像方位向采樣優化準則，基于模擬退火的采樣序列優化算法確定方位向采樣序列。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A中，采用如下公式計算稀疏微波成像系統的方位向采樣率f_p：

f_p＝α_cs·α·v/ρ_a

其中，降采樣率α_cs、平臺相對地面的速度v和方位向名義空間分辨率ρ_a為稀疏微波成像系統的指標，加權系數α＞1，根據系統指標需求由用戶確定。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，對于單通道條帶SAR，所述步驟B中稀疏微波成像方位向采樣優化準則如下：

min{τm}Σl≠l′|Σmwa(τm-tl)·wa*(τm-tl′)·exp{j4πf0[r(τm-tl)-r(τm-tl′)]/c}|s.t.Σm|wa(τm-tl)|2=1,∀l=1,2,···,L|τm+1-τm|≥1fp,dp(Φ)/L<βp]]>

其中，τ_m為待設計的采樣序列時刻，m＝1，2，…，M，M為總采樣點數；t_l表示場景目標的波束中心時刻，l＝1，2，…，L，L表示場景中目標總數；w_a(·)是天線方向圖；f₀表示雷達發射信號載頻；r(τ_m-t_l)表示在采樣時刻τ_m時雷達與波束中心時刻t_l目標的瞬時距離；d_p(Φ)表示給定參數p時，單通道條帶SAR觀測矩陣相關系數的支撐集半徑，定義如下：

dp(Φ)=maxμll′∈Cp|l-l′|,]]>

其中，常數0＜p＜1；單通道條帶SAR觀測矩陣Φ中第m行、第l列上的元素定義為φ[m，l]＝w_a(τ_m-t_l)·exp{j4πf₀r(τ_m-t_l)/c}；μ_ll′(Φ)表示Φ的第l與l′列之間的相關系數向量u_l表示單位矩陣的第l列；C_p是觀測矩陣相關系數集合{μ_ll′(Φ)|l＝1，2，…，L；l′＝1，2，…，L；l≠l′}子集，該集合里面的元素構成了觀測矩陣相關系數中能量最大的(p·100)％的部分0＜β_p＜1是約束p相關系數的支撐半徑的上界，參數p取(0，1)之間的數。