[發明專利]FCT裝置的控制方法和系統及一種處理器

有效

• 申請號: 201410377839.7
• 申請日: 2014-08-01
• 公開（公告）號: CN104142681B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 馮文科;龐彬;宋明岑;杜濤
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本發明涉及控制技術領域，尤其涉及FCT(Functional Circuit Test：功能測試)裝置的控制方法和系統及一種處理器。

背景技術

功能測試就是對產品的各功能進行驗證，根據功能測試用例，逐項測試，檢查產品是否達到用戶要求的功能。目前，印刷電路板在電子工業中已經占據了絕對的統治地位。印刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB(Printed circuit board)，是重要的電子部件，是電子元件的支撐體和電子元器件線路連接的提供者。在PCB板上裝配電子元器件之后，PCB板連同電子元器件構成一個控制板，用于對相應的電器設備進行控制。

控制板在出廠之前，需要經過功能測試，用以判斷控制板是否能夠達到預定的控制要求。對控制板進行功能測試需要用到FCT(Functional Circuit Test：功能測試)裝置，目前，一般需要測試員持續手動控制FCT裝置來實現對控制板的壓板和分離。

但是，目前的技術中，由于人工參與FCT裝置的控制過程較多，憑經驗和直覺對FCT裝置進行控制，容易出現差錯，從而容易使控制板受到損壞。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種FCT(Functional Circuit Test：功能測試)裝置的控制方法和系統及一種處理器，用以避免人工較多的參與對所述FCT裝置的控制過程中，憑經驗和直覺容易導致控制出現差錯的問題，從而避免因控制出現差錯使控制板受到損壞。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種功能測試FCT裝置的控制方法，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、第一繼電器和第二繼電器，用于對控制板進行功能測試，所述功能測試FCT裝置的控制方法，包括：

檢測下降開關信號；

當檢測到所述下降開關信號時，控制所述氣缸下降到預設位置；

延時第一預設時間，控制所述第一繼電器上電；

延時第二預設時間，控制所述第二繼電器上電；

當所述功能測試FCT裝置對所述控制板的功能測試結束后，檢測上升開關信號；

當檢測到所述上升開關信號時，延時第三預設時間，控制所述第一繼電器斷電；

延時第四預設時間，控制所述第二繼電器斷電；

延時第五預設時間，控制所述氣缸上升復位。

優選的，所述下降開關信號由所述功能測試FCT裝置上的下降開關閉合所發出。

優選的，所述預設位置為所述控制板與所述功能測試FCT裝置的針床上的頂針完全接觸時所述氣缸的位置。

優選的，所述控制所述氣缸下降到預設位置，包括：

控制所述氣缸下降的同時，接收所述功能測試FCT裝置上的位置傳感器發送的氣缸位置信號；

依據所述氣缸位置信號確定氣缸的位置；

當所述氣缸下降到所述預設位置時，控制所述氣缸停止下降。

優選的，所述第二繼電器為固態繼電器。

優選的，所述上升開關信號由所述功能測試FCT裝置上的上升開關閉合所發出。

一種處理器，用于控制所述功能測試FCT裝置，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、第一繼電器和第二繼電器，用于對控制板進行功能測試，所述處理器用于檢測下降開關信號；當檢測到所述下降開關信號時，控制所述氣缸下降到預設位置；延時第一預設時間，控制所述第一繼電器上電；延時第二預設時間，控制所述第二繼電器上電；當所述功能測試FCT裝置對所述控制板的功能測試結束后，檢測上升開關信號；當檢測到所述上升開關信號時，延時第三預設時間，控制所述第一繼電器斷電；延時第四預設時間，控制所述第二繼電器斷電；延時第五預設時間，控制所述氣缸上升復位。

一種功能測試FCT裝置的控制系統，包括：

上述所述的處理器，與所述處理器相連接的繼電器驅動電路，與所述處理器相連接的氣缸控制電路，以及與所述處理器相連接的開關信號輸入接口電路；所述繼電器驅動電路、所述氣缸控制電路以及所述開關信號輸入接口電路分別與所述功能測試FCT裝置相連接。

優選的，還包括：

分別與所述處理器、所述繼電器驅動電路、所述氣缸控制電路和所述開關信號輸入接口電路相連接的整流穩壓電路；所述整流穩壓電路包括供電電源。

優選的，所述繼電器驅動電路包括固態繼電器驅動電路。