[發(fā)明專(zhuān)利]用于自適應(yīng)基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型的方法和設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410367878.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104345637B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | T.D.阮-圖昂;H.馬科特;J.施賴(lài)特爾;M.漢澤爾曼 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G05B13/04 | 分類(lèi)號(hào): | G05B13/04 |
| 代理公司: | 中國(guó)專(zhuān)利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李永波;李婷 |
| 地址: | 德國(guó)斯*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 自適應(yīng) 基于 數(shù)據(jù) 函數(shù) 模型 方法 設(shè)備 | ||
1.用于自適應(yīng)基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型來(lái)控制內(nèi)燃機(jī)的方法,其包括下列步驟:
- 提供所述內(nèi)燃機(jī)的取樣部位數(shù)據(jù),取樣部位數(shù)據(jù)包括帶各一個(gè)運(yùn)行點(diǎn)和所述內(nèi)燃機(jī)的目標(biāo)參量的一個(gè)配屬于該運(yùn)行點(diǎn)的目標(biāo)值的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn);
- 通過(guò)取樣部位數(shù)據(jù)定義基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型;
- 提供所述內(nèi)燃機(jī)的測(cè)量點(diǎn)和在該測(cè)量點(diǎn)上檢測(cè)到的所述目標(biāo)參量的值;
- 確定按照重要性函數(shù)具有最小的重要性的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn),其中,所述重要性函數(shù)說(shuō)明了取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)的目標(biāo)值與基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型在相應(yīng)的取樣部位上的函數(shù)值的差異;
- 按照替換標(biāo)準(zhǔn)用所述測(cè)量點(diǎn)來(lái)替換所確定的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn),以自適應(yīng)基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型;
- 計(jì)算自適應(yīng)后的基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型的函數(shù)值;以及
- 基于函數(shù)值來(lái)控制所述內(nèi)燃機(jī)。
2.按權(quán)利要求1所述的方法,其中,當(dāng)所提供的測(cè)量點(diǎn)的投影引起的誤差要大于在有最小的重要性的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)的目標(biāo)值與有效的基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型的函數(shù)值的差距時(shí),滿(mǎn)足替換標(biāo)準(zhǔn)。
3.按權(quán)利要求2所述的方法,其中,從得出所提供的測(cè)量點(diǎn)的投影引起的誤差,其中對(duì)應(yīng)所提供的測(cè)量點(diǎn)的自協(xié)方差,對(duì)應(yīng)帶有在所提供的測(cè)量點(diǎn)和當(dāng)前的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的協(xié)方差值的矢量,并且
4.按權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法,其中,重要性函數(shù)對(duì)應(yīng),其中對(duì)應(yīng)取樣部位數(shù)據(jù)的第j個(gè)取樣部位的自協(xié)方差值,矢量對(duì)應(yīng)在和取樣部位數(shù)據(jù)的所有其余取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的協(xié)方差函數(shù)值并且對(duì)應(yīng)協(xié)方差矩陣,該協(xié)方差矩陣沒(méi)有對(duì)應(yīng)所觀察的取樣部位點(diǎn)的第j行和列。
5.按權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法,其中,基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型對(duì)應(yīng)一種高斯過(guò)程模型并且該高斯過(guò)程模型的超參數(shù)能夠在替換取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)之后通過(guò)優(yōu)化方法來(lái)得到自適應(yīng)。
6.按權(quán)利要求5所述的方法,其中,該高斯過(guò)程模型的超參數(shù)能夠在替換取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn)之后借助梯度下降方法來(lái)得到自適應(yīng)。
7.用于自適應(yīng)基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型來(lái)控制內(nèi)燃機(jī)的設(shè)備,其中該設(shè)備被構(gòu)造用于:
- 提供所述內(nèi)燃機(jī)的取樣部位數(shù)據(jù),取樣部位數(shù)據(jù)包括帶各一個(gè)運(yùn)行點(diǎn)和所述內(nèi)燃機(jī)的目標(biāo)參量的一個(gè)配屬于該運(yùn)行點(diǎn)的目標(biāo)值的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn);
- 通過(guò)取樣部位數(shù)據(jù)定義基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型;
- 提供所述內(nèi)燃機(jī)的測(cè)量點(diǎn)和在該測(cè)量點(diǎn)上檢測(cè)到的所述目標(biāo)參量的值;
- 確定按照重要性函數(shù)具有最小的重要性的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn);
- 按照替換標(biāo)準(zhǔn)用所述測(cè)量點(diǎn)來(lái)替換所確定的取樣部位數(shù)據(jù)點(diǎn),以自適應(yīng)基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型;
- 計(jì)算自適應(yīng)后的基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型的函數(shù)值;以及
- 基于自適應(yīng)后的函數(shù)值來(lái)控制所述內(nèi)燃機(jī)。
8.按權(quán)利要求7所述的設(shè)備,其中,所述基于數(shù)據(jù)的函數(shù)模型是高斯過(guò)程模型。
9.按權(quán)利要求7或8所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備是控制單元(2)。
10.系統(tǒng)(1),包括:
- 按權(quán)利要求7至9中任一項(xiàng)所述的設(shè)備;以及
- 通過(guò)該設(shè)備運(yùn)行的物理的裝置(3)。
11.電子的存儲(chǔ)介質(zhì),其上儲(chǔ)存著計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序設(shè)置用于實(shí)施按權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的方法的所有步驟。
12.電子的控制單元(2),其具有按權(quán)利要求11所述的電子的存儲(chǔ)介質(zhì)。
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