[發明專利]一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭

有效

• 申請號: 201410363697.9
• 申請日: 2014-07-28
• 公開（公告）號: CN105319162B
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發明（設計）人: 朱哲華;劉景會
• 申請（專利權）人: 北京普析通用儀器有限責任公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/64
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 史霞

本發明公開了一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，通過將承載盤設置一定的傾斜角度，使在承載盤圓形透明區域上的待檢測微量液體不滑落的前提下，將承載盤反射產生的雜散光偏轉出所述接收光纖的光線接收區域，使接收光纖所接收的光線全部為經過待檢測微量液體后的由反射片所反射的光線，避免承載盤反射產生的雜散光通過接收光纖進入光學分析系統，從而消除雜散光對微量液體介質進行光學分析造成的干擾，大幅度提高了相關光學分析系統對微量液體介質分析的精確度。

技術領域

本發明涉及對微量液體的光學分析領域，尤其涉及一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭。

背景技術

目前，已開發出借助于光對少量液體介質，例如一滴液體介質進行光學分析或吸收法測定的設備，此類設備的工作原理是，待檢測液體介質放置于檢測頭的承載盤之上，通過檢測頭光被引導通過介質，并由反射器進行反射后由接收光纖傳導出檢測頭，檢測頭與一定的光學分析儀器連接對待檢測液體介質進行光度、分光光度、熒光或光譜熒光的檢測或分析。

然而，由于當入射光成一角度通過透鏡承載盤時，受承載盤厚度及表面反射影響，會產生一定的雜散光投射到接收光纖的接受區域，并通過接收光纖進入分析儀器中，干擾對待檢測液體介質的數據分析，從而影響分析精度。

發明內容

本發明的目的在于針對一般對微量液體進行光學分析的設備的不足，提供一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，通過將承載盤設置一定的傾斜角度，使在承載盤上的待檢測微量液體不滑落的前提下，將承載盤反射產生的雜散光偏轉出所述接收光纖的光線接收區域，避免承載盤產生的雜散光通過接收光纖進入光學分析系統，從而消除雜散光對微量液體介質進行分析造成的干擾，提高對微量液體介質分析的精確度。

本發明的技術方案為：

一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，包括：

殼體，其為豎直設置的中空的筒狀結構；

承載盤，其覆蓋于所述殼體的頂端開口并沿所述殼體的橫截面方向設置有一定的傾斜角度，形成一個將殼體頂端封閉的傾斜的臺面，所述承載盤上設置有用于放置待檢測微量液體的透明區域；

聚光裝置，其為一可將光線進行聚集的透光體，所述聚光裝置以與承載盤距離可調的方式活動連接于所述殼體的內部并將殼體內部分隔為兩個獨立空間；

反射片，其設置于所述承載盤的上方。

優選的是，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭中，所述承載盤上透明區域之外的部分涂布疏水層使待檢測微量液體限制在圓形的透明區域形成半球形液滴；

另外，所述承載盤的透明區域設置為直徑為1.2-2mm的圓形，所述承載盤透明區域的厚度為0.5-2mm。

優選的是，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭中，所述承載盤的圓形透明區域的中心與承載盤的中心重合并與聚光裝置的中心設置于同一豎直的中軸線上。

優選的是，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭中，所述反射片與一高度可調節的支架固定連接并使反射片與承載盤之間的距離與待檢測微量液體形成的半球形液滴的高度相對應。

優選的是，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭中，所述聚光裝置與承載盤之間的距離以入射光線通過聚光裝置后能夠從所述承載盤的圓形的透明區的中心位置穿過并穿過待檢測微量液體后在反射片上聚焦為準。

優選的是，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭中，所述殼體的底端設置有用于將所述殼體底端封閉且與殼體內徑相匹配的密封塞，所述密封塞通過以位置可調的方式嵌入殼體內與所述殼體活動連接。