[發明專利]一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭

有效

• 申請號: 201410363697.9
• 申請日: 2014-07-28
• 公開（公告）號: CN105319162B
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發明（設計）人: 朱哲華;劉景會
• 申請（專利權）人: 北京普析通用儀器有限責任公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/64
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 史霞

1.一種可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，包括：

殼體，其為豎直設置的中空的筒狀結構，所述殼體的底端設置有用于將所述殼體底端封閉且與殼體內徑相匹配的密封塞；所述密封塞上分別設置有貫穿密封塞的入射光纖和接收光纖，其中所述入射光纖和接收光纖分別布置在所述密封塞的中軸線兩邊相對稱的位置，所述接收光纖穿出密封塞的第一端設置為光線接收區域；

承載盤，其覆蓋于所述殼體的頂端開口并沿所述殼體的橫截面方向傾斜設置，形成一個將殼體頂端封閉的傾斜的臺面，所述承載盤上設置有用于放置待檢測微量液體的透明區域；

聚光裝置，其為一可將光線進行聚集的透光體，所述聚光裝置以與承載盤距離可調的方式活動連接于所述殼體的內部并將殼體內部分隔為兩個獨立空間；

反射片，其設置于所述承載盤的上方；

另外，所述承載盤沿所述殼體橫截面方向的傾斜角度以使由承載盤反射的光線偏轉出所述接收光纖的光線接收區域且使所述透明區域上的待檢測微量液體不滑落為準。

2.如權利要求1所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述承載盤上透明區域之外的部分涂布疏水層使待檢測微量液體限制在圓形的透明區域形成半球形液滴；

另外，所述承載盤的透明區域設置為直徑為1.2-2mm的圓形，所述承載盤透明區域的厚度為0.5-2mm。

3.如權利要求2所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述承載盤的圓形透明區域的中心與承載盤的中心重合并與聚光裝置的中心設置于同一豎直的中軸線上。

4.如權利要求1所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述反射片與一高度可調節的支架固定連接并使反射片與承載盤之間的距離與待檢測微量液體形成的半球形液滴的高度相對應。

5.如權利要求3或4所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述聚光裝置與承載盤之間的距離以入射光線通過聚光裝置后能夠從所述承載盤的圓形的透明區的中心位置穿過并穿過待檢測微量液體后在反射片上聚焦為準。

6.如權利要求1所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述密封塞通過以位置可調的方式嵌入殼體內與所述殼體活動連接。

7.如權利要求6所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述聚光裝置與所述殼體的活動連接方式為：所述密封塞的側壁沿所述殼體的內壁向內延伸出連接裝置，所述聚光裝置與所述連接裝置固定連接并與所述密封塞聯動使聚光裝置與所述承載盤之間的距離可調。

8.如權利要求7所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭通過入射光纖與接收光纖和相應的光學分析設備連接。

9.如權利要求2或8所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，所述承載盤沿所述殼體橫截面方向的傾斜角度小于或等于20度。

10.如權利要求8所述的可消除雜散光干擾的微量液體分析用檢測頭，其特征在于，當所述承載盤厚度為0.9-1.1mm，入射光纖和接收光纖之間的距離為0.3-0.5mm時，承載盤的最佳傾斜角度為2-3度。