[發明專利]圖像處理裝置以及固體攝像裝置在審
| 申請號: | 201410347590.5 | 申請日: | 2014-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN104917979A | 公開(公告)日: | 2015-09-16 |
| 發明(設計)人: | 立澤之康 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H04N5/367 | 分類號: | H04N5/367;H04N5/378 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 王成坤;胡建新 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 裝置 以及 固體 攝像 | ||
1.一種圖像處理裝置,
具有實施對圖像信號的缺陷校正的缺陷校正電路,
所述缺陷校正電路具備:
缺陷判定部,對于位于排列了多個像素的像素塊的中央的對象像素,實施缺陷判定,該缺陷判定使用包含于所述像素塊的周邊像素的像素值;
第一校正部,基于所述缺陷判定的結果,對于檢測到缺陷的所述對象像素實施像素值的置換;以及
第二校正部,對于作為缺陷并被預先登記有位置信息的指定像素,實施像素值的插補處理,
在所述第二校正部實施了所述插補處理的情況下,所述缺陷判定部實施使用經所述插補處理后的像素值的所述缺陷判定。
2.如權利要求1所述的圖像處理裝置,
所述第二校正部實施所述插補處理,該插補處理使用位于所述指定像素的水平方向的位置的像素的像素值。
3.如權利要求1所述的圖像處理裝置,
在通過第一模式下的攝像而取得了所述圖像信號的情況下,所述第二校正部使所述插補處理的實施停止,
在通過被設定了相對于所述第一模式的曝光時間而言較長的曝光時間的第二模式下的攝像而取得了所述圖像信號的情況下,所述第二校正部實施所述插補處理。
4.如權利要求3所述的圖像處理裝置,
在所述第一模式下,所述第一校正部對于所述指定像素實施像素值的置換。
5.如權利要求4所述的圖像處理裝置,
所述缺陷校正電路具備地址信號生成部,該地址信號生成部根據所述位置信息而生成用于確定所述指定像素的地址信號,
在所述第一模式下,所述地址信號生成部向所述缺陷判定部輸出所述地址信號,
在所述第二模式下,所述地址信號生成部向所述第二校正部輸出所述地址信號。
6.如權利要求1所述的圖像處理裝置,
所述缺陷校正電路具備保存部,該保存部保存被預先登記的所述位置信息,
所述保存部保存與包含于所述像素塊的二個所述指定像素有關的所述位置信息。
7.如權利要求2所述的圖像處理裝置,
在登記有與在所述水平方向上排列的二個所述指定像素有關的所述位置信息的情況下,所述第二校正部實施包含權重的所述插補處理,該權重與距所述指定像素的距離相應。
8.一種固體攝像裝置,具有:
攝像元件,對被拍體像進行攝像;以及
缺陷校正電路,實施對來自所述攝像元件的圖像信號的缺陷校正,
所述缺陷校正電路具備:
缺陷判定部,對于位于排列了多個像素的像素塊的中央的對象像素,實施缺陷判定,該缺陷判定使用包含于所述像素塊的周邊像素的像素值;
第一校正部,基于所述缺陷判定的結果,對于檢測到缺陷的所述對象像素實施像素值的置換;以及
第二校正部,對于作為缺陷并被預先登記有位置信息的指定像素,實施像素值的插補處理,
在所述第二校正部實施了所述插補處理的情況下,所述缺陷判定部實施使用經所述插補處理后的像素值的所述缺陷判定。
9.如權利要求8所述的固體攝像裝置,
所述第二校正部實施所述插補處理,該插補處理使用位于所述指定像素的水平方向的位置的像素的像素值。
10.如權利要求8所述的固體攝像裝置,
所述攝像元件在第一模式、及被設定了相對于所述第一模式的曝光時間而言較長的曝光時間的第二模式下,對所述被拍體像進行攝像,
在所述第一模式下,所述第二校正部使所述插補處理的實施停止,
在所述第二模式下,所述第二校正部實施所述插補處理。
11.如權利要求10所述的固體攝像裝置,
在所述第一模式下,所述第一校正部對于所述指定像素實施像素值的置換。
12.如權利要求11所述的固體攝像裝置,
所述缺陷校正電路具備地址信號生成部,該地址信號生成部根據所述位置信息而生成用于確定所述指定像素的地址信號,
在所述第一模式下,所述地址信號生成部向所述缺陷判定部輸出所述地址信號,
在所述第二模式下,所述地址信號生成部向所述第二校正部輸出所述地址信號。
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