[發(fā)明專利]用于磁力計校準和補償?shù)南到y(tǒng)和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410334942.3 | 申請日： | 2014-07-14 |
| 公開（公告）號： | CN104296776A | 公開（公告）日： | 2015-01-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | M.R.埃爾格斯馬;V.L.貝奇什瓦;R.D.克雷肖夫 | 申請（專利權(quán)）人： | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號： | G01C25/00 | 分類號： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 張凌苗;劉春元 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 磁力計 校準 補償 系統(tǒng) 方法 | ||
1.?一種系統(tǒng)（100），包括：
慣性測量單元（104），其包括配置成測量繞著三個獨立軸中的相應(yīng)軸的角速度的一個或多個陀螺儀（108），和配置成測量沿著所述三個獨立軸中的相應(yīng)軸的比力的一個或多個加速度計（110）；
磁力計（102），其配置成測量沿著所述三個獨立軸中的每個的局部磁場的強度；以及
處理設(shè)備（106），其耦合到所述慣性測量單元和所述磁力計；所述處理設(shè)備配置成基于從所述磁力計和所述慣性測量單元接收的測量來計算所述系統(tǒng)的運動狀態(tài)數(shù)據(jù)；
其中所述處理設(shè)備還配置成當位置數(shù)據(jù)是不可用的時使用第一技術(shù)計算磁力計測量校準參數(shù)，且當位置數(shù)據(jù)是可用的時使用第二技術(shù)計算磁力計測量校準參數(shù)。
2.?如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中為了當位置數(shù)據(jù)是不可用的時計算磁力計測量校準參數(shù)，所述處理設(shè)備配置成：
根據(jù)包含基于磁力計測量的條目的矩陣的矩陣分解來計算硬鐵偏磁矢量；以及
使用所述磁力計測量和所述硬鐵偏磁矢量來計算軟鐵偏磁矩陣、比例因子誤差矩陣和未對準誤差矩陣中的至少一個。
3.?如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中為了在位置數(shù)據(jù)是可用的時計算磁力計測量校準參數(shù)，所述處理設(shè)備配置成：
確定包含基于所述位置數(shù)據(jù)從地球磁場圖（EMFM）得到的估計磁場值的矩陣的列軼；
如果矩陣具有滿列軼則計算磁力計測量模型的所有磁力計測量校準參數(shù)；以及
如果矩陣沒有滿列軼則計算磁力計測量校準參數(shù)的子集。
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