[發明專利]測井儀用電阻率成像測量方法有效
| 申請號： | 201410325662.6 | 申請日： | 2014-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN104047599A | 公開（公告）日： | 2014-09-17 |
| 發明（設計）人： | 劉乃震;趙齊輝;盧毓周;李永和;白銳;劉策;李敬;劉冰潔;宋振虎 | 申請（專利權）人： | 中國石油集團長城鉆探工程有限公司 |
| 主分類號： | E21B49/00 | 分類號： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吳開磊 |
| 地址： | 100000 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測井 用電 成像 測量方法 | ||
1.一種測井儀用電阻率成像測量方法，其特征在于，包括步驟：
步驟A，設置具備發射線圈和與所述發射線圈正交的正交接收線圈以及與所述發射線圈平行的平行接收線圈的聯合線圈結構；
步驟B，將所述聯合線圈結構在被測地層中旋轉一周，采集一周內不同方位角對應的接收線圈的總電壓響應；
步驟C，對在旋轉一周內的接收線圈的總電壓響應求平均值，作為平行接收線圈的第一分量電壓響應；
步驟D，將所述總電壓響應減去所述第一分量電壓響應后的值，作為所述正交接收線圈的第二分量電壓響應；
步驟E，組合所述第一分量電壓響應和所述第二分量電壓響應，將組合后的結果作為地層電阻率成像的輸入；
步驟F，以探測方向為第一坐標，以該探測方向上的固定位置下的方位角為第二坐標，根據地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。
2.根據權利要求1所述的測井儀用電阻率成像測量方法，其特征在于，所述步驟組合所述第一分量電壓響應和所述第二分量電壓響應包括步驟：
預先進行正演模型訓練，得出轉換系數查找表，根據R＝k1*(VRz-k2*VRx)對第一分量電壓響應和第二分量電壓響應進行組合得出地層電阻率R，其中k1，k2為轉換系數，VRz為第一分量電壓響應，VRx為第二分量電壓響應。
3.根據權利要求1所述的測井儀用電阻率成像測量方法，其特征在于，所述步驟A中，設置與所述發射線圈正交的正交接收線圈包括設置兩個與所述發射線圈正交的正交接收線圈。
4.根據權利要求3所述的測井儀用電阻率成像測量方法，其特征在于，所述步驟A還包括設置所述正交接收線圈與所述平行接收線圈為同一根線繞制。
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