[發明專利]確定介質的物位和流速

有效

• 申請號: 201410323339.5
• 申請日: 2014-07-08
• 公開（公告）號: CN104280066B
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發明（設計）人: 約瑟夫·費倫巴赫;于爾根·莫策;丹尼爾·舒爾特海斯
• 申請（專利權）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;李春暉

1.一種填充物位測量裝置(100)，用于通過對由所述填充物位測量裝置發射且由介質反射的傳輸信號進行評估，來確定距所述介質的距離和所述介質的流速，所述填充物位測量裝置包括：

信號生成器模塊(101)，用于生成所述傳輸信號；

天線裝置(102，201，202)，用于沿與所述介質的流向垂直的第一方向(103)以及沿不同于所述第一方向的第二方向(104)發射所述傳輸信號；

處理器單元(105)，用于通過對由所述介質反射且由所述天線裝置接收的所述傳輸信號進行評估，來確定距所述介質的距離和所述介質的流速；

其中，所述信號生成器模塊(101)是FMCW模塊，并且所述傳輸信號的至少第一部分是調頻連續波信號FMCW；

其中，所述傳輸信號具有第二部分，所述第二部分是連續波信號CW；以及

其中，所述填充物位測量裝置被配置成僅沿所述第一方向發射所述傳輸信號的第一部分以及僅沿所述第二方向發射所述傳輸信號的第二部分。

2.根據權利要求1所述的填充物位測量裝置，其中，所述天線裝置是具有兩個或更多個輻射方向的單天線(102)。

3.根據權利要求1所述的填充物位測量裝置，

其中，所述天線裝置包括第一天線(201)和第二天線(202)；以及

其中，所述第一天線被配置成沿所述第一方向(103)發射所述傳輸信號，所述第二天線被配置成沿所述第二方向(104)發射所述傳輸信號。

4.根據權利要求3所述的填充物位測量裝置，其中，所述兩個天線(201，202)都經由定向耦合器(203)、開關(203)或功率分離器(203)連接至所述信號生成器模塊(101)。

5.根據權利要求1所述的填充物位測量裝置，其中，所述FMCW模塊(101)被配置成生成調頻傳輸信號，所述調頻傳輸信號具有上升的頻率斜坡和下降的頻率斜坡。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的填充物位測量裝置，其中，所述處理器單元(105)被配置成在單個測量周期內確定距所述介質的距離和所述介質的流速。

7.根據權利要求1至4中任一項所述的填充物位測量裝置，被配置為填充物位雷達。

8.根據權利要求1至4中任一項所述的填充物位測量裝置，被配置為雙線線路傳感器。

9.根據權利要求1至4中任一項所述的填充物位測量裝置，被配置成額外確定所述介質的流向。

10.根據權利要求1至4中任一項所述的填充物位測量裝置，其中，所述天線裝置包括平面天線陣列。

11.一種用于通過對由測量裝置發射且由介質反射的傳輸信號進行評估來確定距所述介質的距離和所述介質的流速的方法，所述方法包括以下步驟：

生成所述傳輸信號；

沿與所述介質的流向垂直的第一方向(103)以及沿不同于所述第一方向的第二方向(104)發射所述傳輸信號；以及

通過對由所述介質反射且由天線裝置接收的所述傳輸信號進行評估，來確定距所述介質的距離和所述介質的流速；

其中所述傳輸信號的至少第一部分是調頻連續波信號FMCW；

其中，所述傳輸信號具有第二部分，所述第二部分是連續波信號CW；以及

其中，僅沿所述第一方向發射所述傳輸信號的第一部分以及僅沿所述第二方向發射所述傳輸信號的第二部分。

12.一種存儲有程序單元的計算機可讀介質，當在填充物位測量裝置的處理器單元(105)上執行所述程序單元時，所述程序單元使所述填充物位測量裝置執行根據權利要求11所述的步驟。