[發(fā)明專利]基于多線列時(shí)差掃描擴(kuò)展采樣的點(diǎn)目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度探測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410318164.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104156977B | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董小萌;王世濤;王虎妹;金挺;高宏霞;孫曉峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)空間技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G06T7/33 | 分類號(hào): | G06T7/33 |
| 代理公司: | 中國(guó)航天科技專利中心11009 | 代理人: | 龐靜 |
| 地址: | 100194 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 多線列 時(shí)差 掃描 擴(kuò)展 采樣 目標(biāo) 運(yùn)動(dòng) 速度 探測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于目標(biāo)探測(cè)圖像處理領(lǐng)域,涉及一種基于多線列時(shí)差掃描擴(kuò)展采樣的點(diǎn)目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度探測(cè)方法。
背景技術(shù)
復(fù)雜背景下弱小運(yùn)動(dòng)目標(biāo)探測(cè)技術(shù)的研究在民用、航天和軍事中有重要應(yīng)用。由于成像距離遠(yuǎn)及復(fù)雜背景的影響,目標(biāo)在圖像中成點(diǎn)狀,缺乏足夠的紋理信息和形狀信息,并且圖像中的目標(biāo)信噪比很低,這大大增加了弱小目標(biāo)探測(cè)的難度。目前通用的光學(xué)成像探測(cè)系統(tǒng)一般采用單一的探測(cè)器進(jìn)行探測(cè)成像,對(duì)所獲取的圖像,采用基于濾波的方法、基于小波的方法,基于形態(tài)學(xué)的方法等,進(jìn)行單幀背景抑制,在單幀圖像上進(jìn)行疑似目標(biāo)提取,后利用多幀關(guān)聯(lián)的方式進(jìn)行目標(biāo)軌跡擬合,從而實(shí)現(xiàn)目標(biāo)檢測(cè)。這種探測(cè)體制往往受復(fù)雜背景的影響,無法在單幀圖像上可靠的進(jìn)行目標(biāo)提取,同時(shí)這種探測(cè)體制在目標(biāo)提取過程中并沒有充分利用目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)信息,無法通過一次掃描進(jìn)行目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度的估計(jì),需要通過多次掃描,利用多幀軌跡分析,才能實(shí)現(xiàn)目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度分析計(jì)算,降低了目標(biāo)探測(cè)的實(shí)效性,提高了探測(cè)數(shù)據(jù)分析處理的復(fù)雜度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提出一種基于多線列時(shí)差掃描擴(kuò)展采樣的點(diǎn)目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度探測(cè)方法,實(shí)現(xiàn)不同速度范圍目標(biāo)速度快速分析計(jì)算,提高復(fù)雜背景環(huán)境下運(yùn)動(dòng)目標(biāo)探測(cè)的能力。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案為:一種基于多線列時(shí)差掃描擴(kuò)展采樣的點(diǎn)目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度探測(cè)方法,步驟如下:
(1)構(gòu)造多線列時(shí)差掃描探測(cè)裝置,該裝置包括光學(xué)系統(tǒng)、掃描機(jī)構(gòu)和多線列探測(cè)器;所述的掃描機(jī)構(gòu)包括擺鏡及其驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)軸;所述的多線列探測(cè)器包含Nd個(gè)線列探測(cè)器,每個(gè)線列探測(cè)器平行排列,相鄰兩個(gè)線列探測(cè)器之間的距離為di,其中i=1,2,…,Nd-1;光學(xué)系統(tǒng)和掃描機(jī)構(gòu)一起將視場(chǎng)內(nèi)場(chǎng)景成像于焦平面,驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)軸驅(qū)動(dòng)擺鏡旋轉(zhuǎn),線視場(chǎng)內(nèi)的場(chǎng)景所成像以一定的速率掃過焦平面上前后排列的多線列探測(cè)器,掃描角速率為多個(gè)線列探測(cè)器對(duì)視場(chǎng)內(nèi)同一位置場(chǎng)景先后成像,相鄰兩個(gè)線列成像時(shí)間間隔其中dmin為相鄰兩個(gè)線列探測(cè)器之間的最小排列距離,vmin可探測(cè)的目標(biāo)最小運(yùn)動(dòng)速度,f為光學(xué)系統(tǒng)焦距,GSD為線列探測(cè)器的地面采樣距離;所述Nd取值范圍為Nd≥2;
(2)每個(gè)線列探測(cè)器采用擴(kuò)展采樣方式進(jìn)行點(diǎn)目標(biāo)探測(cè),即線列探測(cè)器采用Nt個(gè)探測(cè)陣列組成,像元對(duì)應(yīng)的瞬時(shí)視場(chǎng)為IFOV,相鄰兩個(gè)探測(cè)陣列平行排列,在垂直掃描方向依次錯(cuò)開1/Nt個(gè)像元,并設(shè)置探測(cè)陣列在掃描方向、在一個(gè)采樣長(zhǎng)度內(nèi)采樣St次;所述采樣長(zhǎng)度為像元對(duì)應(yīng)的瞬時(shí)視場(chǎng);所述的Nt大于等于2;所述St取值范圍為St≥2;
(3)分別將每個(gè)線列探測(cè)器所采集的Nt組圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到亞像元圖像;
(4)分別對(duì)相鄰兩個(gè)線列探測(cè)器處理后的兩幅亞像元進(jìn)行非均勻性校正、亞像素匹配后進(jìn)行差分計(jì)算,完成背景消除;
(5)分別對(duì)步驟(4)中相鄰兩個(gè)線列探測(cè)器處理后的差分圖像進(jìn)行閾值濾波,并采用鄰域約束準(zhǔn)則提取其中的正負(fù)點(diǎn)對(duì),完成一次掃描過程中運(yùn)動(dòng)點(diǎn)目標(biāo)探測(cè)提取;根據(jù)相鄰線列探測(cè)器成像時(shí)差和目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度形成鄰域約束準(zhǔn)則為其中正負(fù)區(qū)域距離Di,探測(cè)的目標(biāo)最大運(yùn)動(dòng)速度vmax;
(6)對(duì)步驟(5)中分別提取的成對(duì)的正負(fù)標(biāo)記區(qū)域,根據(jù)正負(fù)標(biāo)記區(qū)域的位置關(guān)系,計(jì)算目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)速度vi和方向θi;
(7)對(duì)步驟(6)得到的運(yùn)動(dòng)速度vi和方向θi求取均值,得到所探測(cè)目標(biāo)的速度和方向,即
所述步驟(3)中的將每個(gè)線列探測(cè)器所采集的Nt組圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到亞像元圖像的方式,具體過程如下:
(3.1)每個(gè)線列探測(cè)器中的Nt個(gè)探測(cè)陣列同時(shí)成像,得到Nt組圖像數(shù)據(jù);之后立即轉(zhuǎn)入步驟(3.2);于此同時(shí),每個(gè)線列探測(cè)器按照步驟(2)中設(shè)置采樣次數(shù)對(duì)應(yīng)的采樣間隔在掃描方向進(jìn)行掃描成像,每次成像分別得到Nt組圖像數(shù)據(jù),得到數(shù)據(jù)后立即轉(zhuǎn)入步驟(3.2);
(3.2)分別將每個(gè)線列探測(cè)器的Nt組圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)齊拼接處理后形成一幀探測(cè)圖像;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)空間技術(shù)研究院,未經(jīng)中國(guó)空間技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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