[發(fā)明專利]照明燈具光衰檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410272334.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104655405A | 公開(公告)日: | 2015-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘軍鐵 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 潘軍鐵 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 柳州市集智專利商標(biāo)事務(wù)所 45102 | 代理人: | 韋永青 |
| 地址: | 545006 廣西壯族*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 照明 燈具 檢測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及燈具制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種用于對(duì)照明燈具同時(shí)進(jìn)行光衰檢測(cè)的設(shè)備。
背景技術(shù)
目前,照明燈具尤其是LED照明燈具,生產(chǎn)出來后每只都需要進(jìn)行光衰檢測(cè),光衰檢測(cè)合格后才作為合格產(chǎn)品出廠銷售。光衰檢測(cè)需要在密閉的室內(nèi)進(jìn)行,現(xiàn)有的光衰檢測(cè)設(shè)備一般包括有帶有門的光衰室,光衰室內(nèi)設(shè)有敞開式光衰架,光衰架上帶有光衰檢測(cè)裝置及熱交換機(jī)。使用時(shí)將照明燈排放在光衰架上,打開光衰裝置進(jìn)行光衰檢測(cè)。由于光衰檢測(cè)需要的溫度與常溫差異較大,因而操作人員需要進(jìn)入光衰室進(jìn)行操作,工作溫度異常,工作環(huán)境十分惡劣。如果打開光衰室門較長時(shí)間待室內(nèi)溫度與常溫相近后再進(jìn)行操作,造成電能浪費(fèi)較大,能耗較高,且影響加工效率。另外,高低溫度和光衰分別進(jìn)行檢測(cè)的,這樣浪費(fèi)了時(shí)間,影響生產(chǎn)進(jìn)度,且增加了制造成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的問題是提供一種照明燈具光衰檢測(cè)方法,以解決現(xiàn)有照明燈具光衰檢測(cè)操作環(huán)境惡劣,效率低,成本高的問題。
為了解決上述問題,本發(fā)明的技術(shù)方案是:這種照明燈具光衰檢測(cè)方法包括將溫度檢測(cè)和光衰檢測(cè)同時(shí)進(jìn)行,使用一種照明燈光具光衰檢測(cè)設(shè)備對(duì)照明燈具同時(shí)進(jìn)行溫度檢測(cè)和光衰檢測(cè),所述照明燈光具光衰檢測(cè)設(shè)備包括帶門的光衰室,光衰檢測(cè)裝置及熱交換機(jī),所述光衰室的側(cè)壁上設(shè)有排氣風(fēng)機(jī),所述光衰室設(shè)有兩端有開口的檢測(cè)箱體,所述光衰檢測(cè)裝置及熱交換機(jī)設(shè)于所述檢測(cè)箱體內(nèi),一條輸送帶從所述檢測(cè)箱體兩端的開口處橫穿所述檢測(cè)箱體,所述輸送帶從上至下有多層;所述檢測(cè)箱體具有箱體內(nèi)壁和箱體外壁,所述檢測(cè)箱體兩端的開口處均設(shè)有從所述檢測(cè)箱體一側(cè)插入使所述檢測(cè)箱體密封的封插塊,所述封插塊有內(nèi)外兩層,所述箱體內(nèi)壁和箱體外壁及所述封插塊均為石英玻璃制作;其檢測(cè)包括如下步驟:A、在輸送帶上放置好待檢測(cè)的照明燈具,并通過調(diào)壓器調(diào)好照明燈具的輸入電壓,給照明燈具接通電源,啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)將照明燈具輸送到檢測(cè)箱體內(nèi),插入封插塊;B、啟動(dòng)光衰檢測(cè)裝置及熱交換機(jī)的驅(qū)動(dòng)電源,分別按以下三組參數(shù)進(jìn)行溫度檢測(cè)和光衰檢測(cè):檢測(cè)時(shí)開啟排氣風(fēng)機(jī)為光衰室通風(fēng),第一組:檢測(cè)箱體內(nèi)溫度60°C~65°C,照明燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的1.1倍,將照明燈具接通電源,在檢測(cè)箱體內(nèi)23小時(shí)~24小時(shí);第二組:檢測(cè)箱體內(nèi)溫度20°C~30°C,照明燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓,將照明燈具接通電源,在檢測(cè)箱體內(nèi)23小時(shí)~24小時(shí);第二組:檢測(cè)箱體內(nèi)溫度零下15°C~零下13°C,照明燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的0.9倍,將照明燈具接通電源,在檢測(cè)箱體內(nèi)23小時(shí)~24小時(shí);C、每完畢一組檢測(cè)后,拔出封插塊,啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)將照明燈具輸送出檢測(cè)箱體外,調(diào)整照明燈具的輸入電壓后,重復(fù)步驟A至B,直至第三組檢測(cè)完畢;D、再進(jìn)行光衰和色坐標(biāo)的測(cè)試,將光衰或色坐標(biāo)變化未超標(biāo)的LED燈具按合格品進(jìn)行包裝處理。
?由于采用了上述技術(shù)方案,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下有益效果:
本照明燈具光衰檢測(cè)方法,將現(xiàn)有技術(shù)的光衰架設(shè)計(jì)成檢測(cè)箱體,形成密閉的光衰空間,內(nèi)部通過輸送帶傳輸照明燈具,在不改變檢測(cè)的工藝條件的情況下,大大縮小了加熱范圍,極大的降低了能耗,同時(shí),也大大降低了光衰室的溫度,很好的改善了操作人員的操作環(huán)境;檢測(cè)箱體設(shè)計(jì)成雙層中空,兩端的封插塊也使用兩道,起到很好的隔熱作用,提高了熱量的使用率,也減少了檢測(cè)箱體對(duì)外部環(huán)境的加熱作用;另外,將溫度和光衰檢測(cè)同時(shí)進(jìn)行,在不影響檢測(cè)條件下提高了生產(chǎn)效率,降低了生產(chǎn)成本。
附圖說明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例照明燈具光衰檢測(cè)設(shè)備的主視圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例照明燈具光衰檢測(cè)設(shè)備的左視圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例作進(jìn)一步詳述:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于潘軍鐵;,未經(jīng)潘軍鐵;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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