[發明專利]一種類鏡面物體表面光學成像裝置及其成像方法

無效

• 申請號: 201410250957.1
• 申請日: 2014-06-06
• 公開（公告）號: CN104101611A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 文生平;劉云明;李雪烽
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 蔡茂略

1.一種類鏡面物體表面光學成像裝置，其特征在于：包括平行光光源、光柵、相機、計算機和用于控制平行光光源的光源控制器；所述相機與計算機連接。

2.根據權利要求1所述的類鏡面物體表面光學成像裝置，其特征在于：所述平面光光源與光柵配合產生明暗條紋的非均勻光源。

3.權利要求1或2所述類鏡面物體表面光學成像裝置的成像方法，其特征在于如下步驟：

根據光的折射和反射原理，利用平面光光源與光柵配合產生明暗條紋的非均勻光源，然后通過移動非均勻光源使明暗條紋掃描整個被掃描物體表面，并利用相機在一個移動周期內連續采集被掃描物體同一位置得到系列圖片；

并將該系列圖片進行形態學膨脹處理，之后合成為最終的目標圖片，在目標圖片中，被掃描物體表面缺陷以高灰度值存在于中等灰度值所構成的背景上，從而呈現被掃描物體表面的缺陷特征；

具體為：將非均勻光源的光線B照射到被掃描物體表面無缺陷區域，經過折射、反射，最終折射光線B進入相機到達光亮區域；非均勻光源的光線A照射到被掃描物體表面缺陷區域，最后折射出的光線A方向不同于經過無缺陷區域的光線，進入相機后成像在暗像素區域。

4.根據權利要求3所述的成像方法，其特征在于：為了避免逐個分析采集到的一系列條紋在被掃描物體表面不同位置的圖像及均勻背景，將所述系列圖片合成為一張圖片，使最終合成的目標圖片中有缺陷處的灰度值大，無缺陷處的灰度值為亮條紋與采集間距的比值。