[發明專利]MALDI質譜分析用測定基板在審
| 申請號： | 201410234955.3 | 申請日： | 2014-05-29 |
| 公開（公告）號： | CN104217917A | 公開（公告）日： | 2014-12-17 |
| 發明（設計）人： | 島田崇史;青木智景;佐藤孝明;中谷將也;葉山雅昭 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所;松下電器產業株式會社 |
| 主分類號： | H01J49/04 | 分類號： | H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇;李茂家 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | maldi 譜分析 測定 | ||
1.一種MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，具備：
底板，其具有上表面；和
高取向性石墨片，其被鋪設在所述上表面的至少一部分上，取向方向位于所述上表面的面內。
2.根據權利要求1所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，在所述高取向性石墨片的表面存在10nm～1μm的凹凸。
3.根據權利要求1或2所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，所述底板具有導電性。
4.根據權利要求1～3中任一項所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，所述底板為不銹鋼制。
5.根據權利要求1～4中任一項所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，所述底板與所述高取向性石墨片利用導電性粘合劑層被固定。
6.根據權利要求5所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，在所述導電性粘合劑層中插入有良導電板。
7.根據權利要求1～3中任一項所述的MALDI質譜分析用測定基板，其特征在于，所述底板具有透光性。
8.一種MALDI質譜分析方法，其特征在于，在具有上表面的底板的上表面的至少一部分上鋪設取向方向位于所述上表面的面內的高取向性石墨片，在其上載置目標樣品。
9.根據權利要求8所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，在所述高取向性石墨片的表面存在10nm～1μm的凹凸。
10.根據權利要求8或9所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，所述底板具有導電性。
11.根據權利要求8～10中任一項所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，所述底板為不銹鋼制。
12.根據權利要求8～11中任一項所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，將所述底板與所述高取向性石墨片利用導電性粘合劑層固定。
13.根據權利要求12所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，在所述導電性粘合劑層中插入良導電板。
14.根據權利要求8～10中任一項所述的MALDI質譜分析方法，其特征在于，所述底板具有透光性。
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