[發明專利]半導體器件及編程失敗單元在審
| 申請號： | 201410208449.7 | 申請日： | 2014-05-16 |
| 公開（公告）號： | CN104658606A | 公開（公告）日： | 2015-05-27 |
| 發明（設計）人： | 林仁根;李珉圭;安致昱 | 申請（專利權）人： | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號： | G11C16/34 | 分類號： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;毋二省 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體器件 編程 失敗 單元 | ||
1.一種半導體器件，包括：
存儲塊，包括被配置成形成偶數頁面的偶數存儲器單元和被配置成形成奇數頁面的奇數存儲器單元；以及
操作電路，被配置成：對所述偶數存儲器單元和所述奇數存儲器單元執行編程操作、用于分別驗證所述偶數存儲器單元和所述奇數存儲器單元的第一驗證操作以及用于同時驗證所述偶數存儲器單元和所述奇數存儲器單元的第二驗證操作，
其中，所述操作電路被配置成響應于驗證結果值而根據相鄰編程失敗單元的數目來選擇性地執行所述第一驗證操作和所述第二驗證操作。
2.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述第一驗證操作包括偶數驗證操作和奇數驗證操作。
3.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成當編程操作的次數小于參考數時在編程操作之后執行所述第一驗證操作。
4.如權利要求3所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成：當編程操作的次數小于參考數時，在所述第一驗證操作之后感測根據所述第一驗證操作的驗證結果而變化的電流量來確定編程通過/失敗。
5.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成：當編程操作的次數大于或等于參考數時，操作和檢測相鄰編程失敗單元的數目來確定編程通過/失敗。
6.如權利要求5所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成響應于驗證結果值來檢測所述編程失敗單元的列地址以檢測相鄰編程失敗單元的數目。
7.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成在相鄰編程失敗單元的數目大于或等于參考數時執行所述編程操作和所述第一驗證操作。
8.如權利要求7所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成：響應于驗證結果值而在執行所述第一驗證操作后檢測相鄰編程失敗單元的數目來確定編程通過/失敗。
9.如權利要求1所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成：在相鄰編程失敗單元的數目小于參考數時執行所述編程操作和所述第二驗證操作。
10.如權利要求9所述的半導體器件，其中，所述操作電路被配置成感測根據所述第二驗證操作的驗證結果而變化的電流量來確定編程通過/失敗。
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