[發(fā)明專利]一種檢測IGBT功率器件可靠性的系統(tǒng)和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410194176.5 | 申請日: | 2014-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN104569774A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 成星;胡愛斌;高振鵬;佘超群 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇中科君芯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市無錫新區(qū)菱*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 igbt 功率 器件 可靠性 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種檢測IGBT功率器件可靠性的系統(tǒng),其特征在于,包括直流穩(wěn)態(tài)功率模塊、峰值熱阻模塊、直流穩(wěn)態(tài)功率關(guān)系模塊和分析可靠性模塊;
其中,所述直流穩(wěn)態(tài)功率模塊用于,測量IGBT功率器件在不同柵壓下漏壓值和漏電流值,計算得到所述IGBT功率器件的直流穩(wěn)態(tài)功率;
所述峰值熱阻模塊用于,檢測所述IGBT功率器件的峰值結(jié)溫,得到所述IGBT功率器件的峰值結(jié)溫值和顯微紅外熱像圖,根據(jù)所述峰值結(jié)溫值,計算得到所述IGBT功率器件的峰值熱阻;
所述直流穩(wěn)態(tài)功率關(guān)系模塊用于,根據(jù)所述IGBT功率器件的直流穩(wěn)態(tài)功率、所述峰值結(jié)溫和所述峰值熱阻,通過數(shù)學(xué)擬合方法分別得到峰值結(jié)溫與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系和峰值熱阻與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系;
所述分析可靠性模塊用于,根據(jù)峰值結(jié)溫與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系和峰值熱阻與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系,對所述顯微紅外熱像圖進(jìn)行分析,得到所述IGBT功率器件的可靠性的檢測結(jié)果。
2.一種檢測IGBT功率器件可靠性的方法,其特征在于,包括如下步驟:
測量IGBT功率器件在不同柵壓下漏壓值和漏電流值,計算得到所述IGBT功率器件的直流穩(wěn)態(tài)功率;
檢測所述IGBT功率器件的峰值結(jié)溫,得到所述IGBT功率器件的峰值結(jié)溫值和顯微紅外熱像圖,根據(jù)所述峰值結(jié)溫值,計算得到所述IGBT功率器件的峰值熱阻;
根據(jù)所述IGBT功率器件的直流穩(wěn)態(tài)功率、所述峰值結(jié)溫和所述峰值熱阻,通過數(shù)學(xué)擬合方法分別得到峰值結(jié)溫與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系和峰值熱阻與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系;
根據(jù)峰值結(jié)溫與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系和峰值熱阻與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系,對所述顯微紅外熱像圖進(jìn)行分析,得到所述IGBT功率器件的可靠性的檢測結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述檢測所述IGBT功率器件的峰值結(jié)溫的方法包括如下:
通過所述顯微紅外熱像設(shè)備檢測該所述IGBT功率器件芯片的輻射能量密度分布,將所述輻射能量密度分布換轉(zhuǎn)換成所述IGBT功率器件的表面各點的溫度值,得到所述峰值結(jié)溫。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述計算得到IGBT功率器件的峰值熱阻的方法如式(1)所示:
Tj=P*Rth(j-c)+Tc????????????(1)
式中,Tj為峰值熱阻,單位為℃/W;P為直流穩(wěn)態(tài)功率,單位為W;Rth(j-c)為IGBT功率器件的結(jié)溫與環(huán)境溫度的熱阻,單位為℃/W;Tc為IGBT功率器件的基板溫度,單位為℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對顯微紅外熱像圖進(jìn)行分析的方法包括如下步驟:
根據(jù)所述IGBT功率器件的外延材料、所述IGBT功率器件的器件結(jié)構(gòu)、所述峰值結(jié)溫與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系和所述峰值熱阻與直流穩(wěn)態(tài)功率的關(guān)系,對所述顯微紅外熱像圖的熱斑進(jìn)行分析,判斷所述IGBT功率器件的可靠性。
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