[發(fā)明專利]電量測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410190675.7 | 申請日: | 2014-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN105094265B | 公開(公告)日: | 2019-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭若琳 | 申請(專利權(quán))人: | 騰訊科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G06F1/28 | 分類號: | G06F1/28 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 蔣雅潔;張穎玲 |
| 地址: | 518044 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電量 測試 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開一種電量測試方法及裝置,利用測試程序模擬應(yīng)用程序執(zhí)行對應(yīng)的操作事件、電量監(jiān)聽程序監(jiān)測并記錄終端ROM的電量變化并輸出電量參數(shù)對應(yīng)的測試數(shù)據(jù),相較于現(xiàn)有技術(shù)中需要人工模擬執(zhí)行對應(yīng)操作事件并手動記錄終端ROM電量變化情況的方式,本發(fā)明實施例具有提高終端ROM電量測試效率和準確率的有益效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計算機技術(shù),尤其涉及一種電量測試方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著智能終端的普及,尤其是基于Android操作平臺的智能手機的普遍應(yīng)用,越來越多的用戶使用智能終端進行辦公、娛樂、社交等活動;一部手機通常也會同時運行多個應(yīng)用程序,而手機的電量卻非常有限;且對于相同操作系統(tǒng)的手機,手機系統(tǒng)固件(即ROM)中安裝的應(yīng)用程序不同,其耗電量也顯然不同。為了降低手機ROM中各應(yīng)用程序的耗電量,有必要對ROM中各應(yīng)用程序的耗電量進行檢測。
現(xiàn)有技術(shù)一般是通過大量的人工操作來模擬終端ROM中各應(yīng)用程序運行的測試場景從而對ROM中各應(yīng)用程序進行電量測試,例如當需要測試24小時內(nèi)ROM中各應(yīng)用程序執(zhí)行對應(yīng)操作事件的耗電量,則需人工在24小時內(nèi)不間斷地執(zhí)行ROM上各應(yīng)用程序所對應(yīng)的上述操作事件,且需要人工記錄不同測試時間段的電量值,費時費力且電量測試效率低。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種電量測試方法及裝置,以解決人工測試終端執(zhí)行對應(yīng)操作事件時終端ROM的電量變化這一測試方式所帶來的測試效率低的問題。
本發(fā)明實施例公開了一種電量測試方法,包括以下步驟:
接收電量測試指令,啟動所述電量測試指令對應(yīng)的預先設(shè)置的測試程序,同時啟動所述測試程序映射的電量監(jiān)聽程序;
基于啟動后的所述測試程序,模擬終端系統(tǒng)固件上預設(shè)類型的應(yīng)用程序所執(zhí)行的預設(shè)操作事件;
在模擬所述應(yīng)用程序所執(zhí)行的預設(shè)操作事件的過程中,基于所述電量監(jiān)聽程序監(jiān)測所述終端系統(tǒng)固件的電量變化;
根據(jù)監(jiān)測的所述終端系統(tǒng)固件的電量變化,獲取所述終端系統(tǒng)固件中電量參數(shù)的測試數(shù)據(jù)。
本發(fā)明實施例還公開了一種電量測試裝置,包括
測試模塊,用于接收電量測試指令,啟動所述電量測試指令對應(yīng)的預先設(shè)置的測試程序,同時啟動所述測試程序映射的電量監(jiān)聽程序;基于啟動后的所述測試程序,模擬終端系統(tǒng)固件上預設(shè)類型的應(yīng)用程序所執(zhí)行的預設(shè)操作事件;
監(jiān)聽模塊,用于在模擬所述應(yīng)用程序所執(zhí)行的預設(shè)操作事件的過程中,基于所述電量監(jiān)聽程序監(jiān)測所述終端系統(tǒng)固件的電量變化;根據(jù)監(jiān)測的所述終端系統(tǒng)固件的電量變化,獲取所述終端系統(tǒng)固件中電量參數(shù)的測試數(shù)據(jù)。
本發(fā)明實施例利用測試程序模擬應(yīng)用程序執(zhí)行對應(yīng)的操作事件、電量監(jiān)聽程序監(jiān)測并記錄終端ROM的電量變化并輸出電量參數(shù)對應(yīng)的測試數(shù)據(jù),相較于現(xiàn)有技術(shù)中需要人工模擬執(zhí)行對應(yīng)操作事件并手動記錄終端ROM電量變化情況的方式,本發(fā)明實施例具有提高終端ROM電量測試效率和準確率的有益效果。
附圖說明
圖1是本發(fā)明電量測試方法第一實施例流程示意圖;
圖2是本發(fā)明電量測試方法第二實施例流程示意圖;
圖3是本發(fā)明電量測試方法第三實施例流程示意圖;
圖4是本發(fā)明電量測試裝置第一實施例功能模塊示意圖;
圖5是本發(fā)明電量測試裝置第二實施例功能模塊示意圖;
圖6是本發(fā)明電量測試裝置第三實施例功能模塊示意圖;
圖7是本發(fā)明電量測試裝置一實施例硬件架構(gòu)示意圖。
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