[發明專利]噴墨裝置及噴墨裝置的頭部配置方法

有效

• 申請號: 201410181710.9
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN104163039A
• 公開（公告）日: 2014-11-26
• 發明（設計）人: 末益智志;南云孝夫;岡崎信
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: B41J2/01
• 分類號: B41J2/01
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 茅翊忞

技術領域

本發明涉及噴墨裝置及噴墨裝置的頭部配置方法。

背景技術

近年來，關注一種使用噴墨裝置來制造儀器的方法。噴墨裝置具有進行液滴噴出的多個噴嘴，通過一邊對噴嘴和印刷對象物的位置關系進行控制一邊從噴嘴噴出液滴，來將液滴涂布于印刷對象物。

作為這種噴墨裝置的一種，存在一種包括被稱為行掃描頭部的、在印刷對象物的寬度方向上排列設置的多個模塊頭部(具有多個噴出口的液滴噴出頭部)的噴墨裝置。圖7中示出了行掃描頭部98的示意圖。如圖7所示，行掃描頭部98由多個模塊頭部620和對其進行保持的框體121構成。行掃描頭部是沿著印刷對象物的寬度方向延伸的長條狀物體，因此，難以一體制作，但通過將小面積的模塊頭部排列設置于印刷對象物的寬度方向上，能制成長條的行掃描頭部。

另外，為了實現高精細、高精度的印刷，已知有一種裝設有對噴嘴的配置進行了改進了的模塊頭部的行掃描頭部(例如參照專利文獻1的日本專利特開2002-273878號公報)。圖8是表示專利文獻1中記載的、構成現有的行掃描頭部的模塊頭部620的噴嘴600的配置的示意圖。

在圖8(a)中，使模塊頭部620的長邊方向相對于與印刷方向(以下稱為主掃描方向)呈直角的方向(以下稱為副掃描方向)傾斜角度θ。通過使模塊頭部620傾斜，能使印刷點的印刷間距窄間距化。印刷點表示液滴射中印刷對象物的配置，印刷間距表示印刷點在副掃描方向上的間隔。

另外，在專利文獻1中，也記載有如圖8(b)那樣，在模塊頭部620上平行地設有兩列噴嘴600的列的裝置。根據該方式，能進一步使印刷間距窄間距化，并能實現高精細的印刷。

另外，在印刷對象物的寬度較大的情況下，可以考慮通過采用將上述行掃描頭部沿副掃描方向(印刷對象物的寬度方向)排列配置多個的結構，以能按每個行掃描頭部進行模塊頭部的更換作業、維修，不會損害模塊頭部的更換性及維修性，且能構成寬度大的描畫線。此時，當未高精度地裝設各行掃描頭部時，因多個行掃描頭部間的相對位置存在誤差，會產生射中誤差，對于這樣的技術問題，關于裝設的行掃描頭部，已知有下述方式，其包括：根據從行掃描頭部噴出的射中誤差的識別結果，對各行掃描頭部在副掃描方向及θ軸方向上的相對位置分別進行修正的工序；以及根據上述射中誤差的識別結果，對主掃描方向上的噴出圖案數據進行修正的工序(例如參照專利文獻2的日本專利特許第4765278號)。

然而，在將上述現有結構的行掃描頭部(參照圖9的符號99、100)沿副掃描方向排列配置的情況下，形成為印刷間距(參照圖9的符號P)越細、則行掃描頭部彼此的距離(參照圖9的符號D)就越小這樣的結構。行掃描頭部由多個模塊頭部和對其進行保持的框體構成，因此，是重量較重的物體，為了準確地進行調節行掃描頭部間的微小間距的作業，需要較高的技能和經驗。即，當裝設行掃描頭部時、進行副掃描方向及θ軸的調節時，產生行掃描頭部彼此干涉的危險升高這樣的技術問題。當行掃描頭部彼此干涉時，裝設于行掃描頭部的模塊頭部(參照圖9的符號620a、620b)的位置偏移，液滴的射中精度降低。另外，為了修復模塊頭部的裝設位置，需將行掃描頭部從噴墨裝置上拆下，再次進行模塊頭部的對準，然后將行掃描頭部裝設于噴墨裝置，因此，頭部裝設及位置調節需要大量的時間。

圖9是將上述現有結構的第一行掃描頭部99及第二行掃描頭部100排列配置在印刷對象物的寬度方向上的情況下的行掃描頭部及配置于各行掃描頭部的端部的模塊頭部620a、620b的示意圖。另外，X軸方向表示主掃描方向，Y軸方向表示副掃描方向。

在圖9中，當將模塊頭部620a、620b的從副掃描軸630起始的傾斜設為θ，將噴嘴600的噴嘴間距設為p，將印刷點110的副掃描方向距離即印刷間距設為P(＝p·cosθ)，將模塊頭部620a、620b的短邊方向的尺寸設為K，將噴嘴600的噴嘴列內的個數設為n，將模塊頭部620a、620b間的距離設為d，將從第一行掃描頭部99的副掃描方向端面到模塊頭部620a的副掃描方向端面為止的距離設為i，將從第二行掃描頭部100的副掃描方向端面到模塊頭部620b的副掃描方向端面為止的距離設為i，將第一行掃描頭部99與第二行掃描頭部100的距離設為D時，模塊頭部620a、620b間的距離d及第一行掃描頭部99與第二行掃描頭部100的距離D滿足以下關系式。

(數學式1)

d＝n·sinθ·P－K(式1)

(數學式2)

D＝d－2·i(式2)