[發明專利]一種磁粉探傷儀電源處理電路和磁粉探傷儀

有效

• 申請號: 201410174662.0
• 申請日: 2014-04-28
• 公開（公告）號: CN103956907B
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 汪月銀
• 申請（專利權）人: 深圳市神視檢驗有限公司
• 主分類號: H02M3/335
• 分類號: H02M3/335;H02M7/5387;H02M3/155;G01N27/84
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 鄧猛烈,胡彬

技術領域

本發明涉及磁粉探傷設備技術領域，尤其涉及一種磁粉探傷儀電源處理電路和磁粉探傷儀。

背景技術

目前市場上的磁粉探傷儀，主要分為交流磁粉探傷儀和直流磁粉探傷儀兩種。交流磁粉探傷儀一般產生50HZ交流磁場，用于檢測工件表面和近表面的缺陷，對工件深埋缺陷的檢測能力比較弱。直流磁粉探傷儀一般產生直流磁場，用于檢測工件的深埋缺陷，對工件表面和近表面缺陷的檢測能力比較弱。所以，若要對一工件進行全面檢測，常常需要用交流磁粉探傷儀檢測一遍工件表面和近表面的缺陷，再用直流磁粉探傷儀檢測一遍工件深埋的缺陷，導致整個探傷檢測的周期長且操作繁瑣。

發明內容

本發明的目的在于提出一種磁粉探傷儀電源處理電路和磁粉探傷儀，集成了直流和交流兩種探傷工作模式，可在不更換探傷儀的前提下對工件進行表面缺陷、近表面缺陷和深埋缺陷的全面檢測，操作簡單且使用方便。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：

第一方面，提供一種磁粉探傷儀電源處理電路，包括升壓電路、控制電路和H橋電路，所述控制電路和H橋電路連接，所述H橋電路還和升壓電路連接，所述控制電路控制H橋電路的輸出波形，以便H橋電路輸出0～60Hz的電壓頻率信號。

其中，所述電壓頻率信號包括直流電壓頻率信號、交流定頻電壓頻率信號和15～50Hz交流掃頻電壓頻率信號。

其中，所述升壓電路包括SG2525AP芯片U1，所述SG2525AP芯片U1上設置有第1管腳、第2管腳、第3管腳、第4管腳、第5管腳、第6管腳、第7管腳、第8管腳、第9管腳、第10管腳、第11管腳、第12管腳、第13管腳、第14管腳、第15管腳和第16管腳；

所述第1管腳的第一路依次通過電阻R10和電容C7連接第9管腳，所述第1管腳的第二路通過電容C13接地，所述第1管腳的第三路連接電阻R19的一端的第一路，所述第2管腳的第一路通過電阻R17接地，所述第2管腳的第二路連接電阻R14的一端，所述第3管腳懸空，所述第4管腳懸空，所述第5管腳的第一路通過電容C12接地，所述第5管腳第二路通過電阻R16連接第7管腳，所述第6管腳通過電阻R13接地，所述第8管腳通過電容C11接地，所述第10管腳的第一路通過電阻R1接地，所述第10管腳的第二路通過電容C1接地，所述第10管腳的第三路通過電阻R2連接SHD端，所述第11管腳的第一路連接電阻R11的一端，所述第11管腳的第二路連接電阻R12的一端，所述第12管腳接地，所述第13管腳的第一路連接電源BAT+端，所述第13管腳的第二路通過電容C4接地，所述第13管腳的第三路通過電容C5接地，所述第14管腳的第一路連接電阻R3的一端，所述第14管腳的第二路連接電阻R4的一端，所述第15管腳連接電源BAT+端，所述第16管腳連接電阻R14的另一端的第一路；

電阻R14的另一端的第二路通過電容C9接地，電阻R14的另一端的第三路通過電容C10接地，所述電阻R11的另一端的第一路連接IRF3205ZS型的MOS場效應管Q3的柵極，所述電阻R11的另一端的第二路連接電阻R8的一端，電阻R8的另一端接地，MOS場效應管Q3的漏極的第一路連接IRF3205ZS型的MOS場效應管Q4的漏極，MOS場效應管Q3的漏極的第二路連接電容C8的一端，MOS場效應管Q3的漏極的第三路連接變壓器的第一電壓輸入端，MOS場效應管Q3的源極接地，所述電阻R12的另一端的第一路連接MOS場效應管Q4的柵極，所述電阻R12的另一端的第二路連接電阻R9的一端，電阻R9的另一端接地，MOS場效應管Q4的源極接地，所述電阻R3的另一端的第一路連接IRF3205ZS型的MOS場效應管Q1的柵極，所述電阻R3的另一端的第二路連接電阻R5的一端，電阻R5的另一端接地，MOS場效應管Q1的漏極的第一路連接IRF3205ZS型的MOS場效應管Q2的漏極，MOS場效應管Q1的漏極的第二路連接電阻R7的一端，MOS場效應管Q1的漏極的第三路連接變壓器的第二電壓輸入端，MOS場效應管Q1的源極接地，所述電阻R4的另一端的第一路連接MOS場效應管Q2的柵極，所述電阻R4的另一端的第二路連接電阻R6的一端，電阻R6的另一端接地，MOS場效應管Q2的源極接地，電阻R7的另一端和電容C8的另一端連接；