[發明專利]發光面亮度均勻性分析方法

有效

• 申請號: 201410164419.0
• 申請日: 2014-04-22
• 公開（公告）號: CN103983429B
• 公開（公告）日: 2016-09-21
• 發明（設計）人: 鐘磊;周詳;鄭成龍;李福生;花醒飛;熊衍建;于勇;季永康
• 申請（專利權）人: 常州市武進區半導體照明應用技術研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯

技術領域

本發明涉及照明領域，具體地，涉及一種發光面亮度均勻性分析方法。

背景技術

目前，大多數的亮度均勻性分析方法，主要用于對諸如LCD、LED的顯示類產品進行亮度均勻性分析。這些亮度均勻性分析方法通常選取發光面的多個點或者區域作為亮度均勻性分析基礎。若采用現有的亮度均勻性分析方法，對照明類產品進行亮度均勻性分析，則存在分析偏差較大的問題。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題，特別創新地提出了一種發光面亮度均勻性分析方法，以解決目前亮度均勻分析方法在對照明類產品進行亮度均勻性分析時，偏差較大的問題。

為了實現本發明的上述目的，本發明提供了一種發光面亮度均勻性分析方法，包括：

亮度數據測量步驟，測量待測產品的發光面的亮度數據；

形狀判斷步驟，判斷所述發光面的形狀；

亮度均勻性分析步驟，根據所述發光面的形狀，對所述發光面的亮度數據進行亮度均勻性分析。

在本發明的一個實施例中，所述亮度數據測量步驟，包括：

固定亮度計和所述待測產品，以使所述亮度計的鏡頭的對稱軸與所述待測產品的發光面的對稱軸所構成的平面，與所述發光面垂直，且所述亮度計的鏡頭面與所述發光面相對平行設置；

采用所述亮度計測量所述待測產品的發光面的亮度數據。

在本發明的一個實施例中，所述亮度數據測量步驟，包括：在采用所述亮度計測量所述發光面的亮度數據之前，還包括：

啟動所述待測產品，直至所述待測產品工作至穩定狀態。

在本發明的一個實施例中，所述亮度計為成像亮度計。

在本發明的一個實施例中，在所述形狀判斷步驟中，若判斷所述發光面的形狀為圓形，則所述亮度均勻性分析步驟包括：

第一發光面劃分步驟，將所述發光面劃分成中心區和環形區，并將所述環形區劃分成多個扇面區；

第一參數計算步驟，計算出所述發光面的亮度旋轉對稱性參數、第一亮度中心平衡性參數和第一亮度均勻性參數中至少一個參數；

第一亮度均勻性分析步驟，將計算出的所述參數與其閾值進行比較，分析出所述發光面的亮度均勻性。

在本發明的一個實施例中，所述第一參數計算步驟，包括：

亮度旋轉對稱性參數計算步驟：根據公式S＝min(L_i)/max(L_i)計算出所述亮度旋轉對稱性參數S，其中，1≤i≤n-1且n表示所述發光面的中心區和扇面區的總數，L₁至L_n-1表示所述發光面的對應扇面區的亮度，L_n表示所述發光面的中心區的亮度，L_i表示所述發光面的第i個扇面區的亮度，min()表示取最小值，max()表示取最大值；

第一亮度中心平衡性參數計算步驟：求取所述發光面中所有扇面區的亮度的平均值average(L_i)；以及根據公式B＝L_n/average(L_i)計算出所述第一亮度中心平衡性參數B，其中，L_n表示所述發光面的中心區的亮度；

第一亮度均勻性參數計算步驟：根據公式U＝N_bright/N計算出所述第一亮度均勻性參數，其中，N_bright表示所述發光面中亮度大于或等于平均亮度80％的像素點的個數，N表示所述發光面中所有像素點的總數，且所述平均亮度表示所述發光面中所有像素點的亮度平均值。

在本發明的一個實施例中，在所述形狀判斷步驟中，若判斷所述發光面的形狀為方形，則所述亮度均勻分析步驟包括：

第二發光面劃分步驟，將所述發光面等分成2p×2q個方形區，其中，p表示方形區的列數，q表示方形區的行數，且p和q均為正整數；

第二參數計算步驟，計算出所述發光面的水平對稱性參數、垂直對稱性參數、第二亮度中心平衡性參數和第二亮度均勻性參數中的至少一個參數；

第二亮度均勻性分析步驟，將計算出的所述參數與其閾值進行比較，分析出所述發光面的亮度均勻性。

在本發明的一個實施例中，所述第二參數計算步驟，包括：

水平對稱性參數計算步驟：利用所述發光面的水平對稱軸，將所述發光面劃分成上半部和下半部；

分別計算出位于所述發光面的上半部的所有方形區的亮度之和S1，以及位于所述發光面的下半部的所有方形區的亮度之和S2；以及