[發明專利]缺陷電連接的檢測

有效

• 申請號: 201410145461.8
• 申請日: 2014-04-11
• 公開（公告）號: CN104101811B
• 公開（公告）日: 2017-09-22
• 發明（設計）人: F·約斯特;J·巴倫舍恩;P·G·布勒克霍夫
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技奧地利有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H01L23/64
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所11256
• 代理人: 王茂華

1.一種集成電路

－包括第一線圈和第二線圈，

－包括并聯布置以共享電流負載的第一電連接、第二電連接和第三電連接，

－其中所述第一線圈位于所述第一電連接和所述第二電連接之間或者與所述第一電連接和所述第二電連接相鄰地布置，

－其中所述第二線圈位于所述第二電連接和所述第三電連接之間或者與所述第二電連接和所述第三電連接相鄰地布置，

－其中所述第一線圈和所述第二線圈都包括至少一個繞組，以及

－其中所述第一線圈和第二線圈被布置在所述集成電路上或在所述集成電路中。

2.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中的至少一個電連接將所述集成電路的一部分與管腳連接。

3.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中的至少一個包括鍵合接線。

4.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中的至少一個包括導電夾。

5.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一線圈或所述第二線圈中的至少一個線圈包括供應在所述集成電路上或者嵌入在所述集成電路中的金屬結構和/或金屬層。

6.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一線圈或所述第二線圈中的至少一個線圈被布置為基本上平行于所述集成電路的表面或者基本上垂直于所述集成電路的所述表面。

7.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一線圈或所述第二線圈中的至少一個線圈包括供應在所述集成電路的若干層上的金屬結構和/或金屬層。

8.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述第一線圈或所述第二線圈中的至少一個線圈用于溫度測量。

9.一種用于確定到集成電路的有缺陷的電連接的設備，

－其中所述設備包括第一線圈和第二線圈，

－其中所述第一線圈位于第一電連接和第二電連接之間或者與第一電連接和第二電連接相鄰地布置，

－其中所述第二線圈位于第二電連接和第三電連接之間或者與第二電連接和第三電連接相鄰地布置，

－其中所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接并聯布置，

－其中所述設備被布置

－用于經由在所述第一線圈中感應的第一電壓，來確定在所述第一電連接或所述第二電連接中的電流改變，

－用于經由在所述第二線圈中感應的第二電壓，來確定在所述第二電連接或所述第三電連接中的電流改變，

－用于基于所述第一電壓和所述第二電壓，來確定所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中的哪個有缺陷。

10.根據權利要求9所述的設備，其中所述設備被布置用于基于所確定的所述有缺陷的電連接來發出信號，所述信號指示或包括下列各項中的至少一項：

－所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中的哪個有缺陷；

－警告通知；

－必須限制或減少電流的指示，具體地用于減少或限制被輸送到剩余電連接的所述電流的信號；

－出錯信號；以及

－用于斷開組件的控制信號，所述組件具體地為電子開關、晶體管、IGBT或FET。

11.根據權利要求9所述的設備，其中所述設備被布置用于基于所述第一線圈或所述第二線圈的電阻的改變來進行溫度測量。

12.根據權利要求11所述的設備，其中所述設備被布置用于在當通過所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接的所述電流的改變為零或基本上為零的階段期間進行所述溫度測量。

13.根據權利要求9所述的設備，其中所述線圈被用作電流互感器，具體地為沒有芯部的電流互感器。

14.根據權利要求9所述的設備，其中所述設備被布置用于基于所述第一電壓或所述第二電壓來確定所述第一電連接、所述第二電連接和所述第三電連接中哪個有缺陷，其中在所述有缺陷的電連接附近的所述第一線圈中感應的所述第一電壓或者所述第二線圈中感應的所述第二電壓不為零或者提供大于預確定的值的變化。