[發(fā)明專利]量塊及待加工件在加工中心內(nèi)的定位方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410131973.9
• 申請(qǐng)日: 2014-04-02
• 公開（公告）號(hào): CN103894886A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉俊飛;何瑞卿
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳創(chuàng)維精密科技有限公司
• 主分類號(hào): B23Q17/22
• 分類號(hào): B23Q17/22;B23Q3/18;B23Q15/22
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國(guó);章小燕

1.一種量塊，其特征在于，包括繞旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)形成的本體，所述本體包括起始面、終止面以及與所述起始面和終止面連接的周面，所述起始面和所述終止面之間形成缺口，所述起始面和所述終止面各自所在的面與所述旋轉(zhuǎn)軸共面，所述周面上的每一點(diǎn)與所述旋轉(zhuǎn)軸的距離為預(yù)設(shè)半徑，所述起始面和終止面的夾角小于180度。

2.如權(quán)利要求1所述的量塊，其特征在于，所述起始面和終止面各設(shè)有一個(gè)凹槽，所述凹槽內(nèi)設(shè)有磁鐵；所述磁鐵朝向所述凹槽的面和所述凹槽貼合；所述磁鐵背向所述凹槽的面不凸出于所述凹槽。

3.如權(quán)利要求2所述的量塊，其特征在于，所述磁鐵背向所述凹槽的面距所述凹槽的槽口0毫米至0.3毫米。

4.如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的量塊，其特征在于，所述本體于其旋轉(zhuǎn)軸處設(shè)有貫穿所述本體的上表面和下表面的讓位孔，所述讓位孔和所述缺口連通。

5.如權(quán)利要求4所述的量塊，其特征在于，所述讓位孔為圓柱形，所述讓位孔的旋轉(zhuǎn)軸和所述本體的旋轉(zhuǎn)軸同軸。

6.一種待加工件在加工中心內(nèi)的定位方法，其特征在于，包括：

將量塊的起始面和終止面貼合于待加工件的相鄰兩表面上，所述量塊的旋轉(zhuǎn)軸穿過所述待加工件的編程坐標(biāo)系的零點(diǎn)；

將所述待加工件與所述加工中心的機(jī)床工作臺(tái)相固定；

獲取所述量塊的周面在加工坐標(biāo)系中的坐標(biāo)；

根據(jù)獲取的所述坐標(biāo)獲取待加工件的編程坐標(biāo)系的零點(diǎn)在加工坐標(biāo)系的X軸上的坐標(biāo)和Z軸上的坐標(biāo)，所述X軸和Z軸垂直于所述量塊的旋轉(zhuǎn)軸。

7.如權(quán)利要求6所述的定位方法，其特征在于，所述獲取所述量塊的周面在加工坐標(biāo)系中的坐標(biāo)的步驟包括：

將所述加工中心的測(cè)量部件沿所述加工坐標(biāo)系中的X軸正方向移動(dòng)，當(dāng)所述測(cè)量部件觸碰所述量塊的周面在所述X軸坐標(biāo)上的極小值的點(diǎn)時(shí)，記錄所述測(cè)量部件在加工坐標(biāo)系中的坐標(biāo)P1（x1，y1，z1）為所述量塊在加工坐標(biāo)系中X軸上的坐標(biāo)；

將所述加工中心的測(cè)量部件沿著所述加工坐標(biāo)系中的Z軸正方向移動(dòng)，當(dāng)所述測(cè)量部件觸碰所述量塊的周面在所述Z軸坐標(biāo)上的極小值的點(diǎn)時(shí)，記錄所述測(cè)量部件在加工坐標(biāo)系中的坐標(biāo)P2（x2，y2，z2）為所述量塊在加工坐標(biāo)系中Z軸上的坐標(biāo)。

8.如權(quán)利要求7所述的定位方法，其特征在于，所述根據(jù)量塊的周面于加工坐標(biāo)系中的坐標(biāo)來獲取待加工件的編程坐標(biāo)系的零點(diǎn)于加工坐標(biāo)系的X軸和Z軸的坐標(biāo)的步驟包括：

根據(jù)記錄的坐標(biāo)P1（x1，y1，z1）、P2（x2，y2，z2）以及所述量塊的預(yù)設(shè)半徑R，利用公式x3=x1+R和z3=z2+R計(jì)算編程坐標(biāo)系的零點(diǎn)在加工坐標(biāo)系的X軸上的坐標(biāo)x3和Z軸上的坐標(biāo)z3。