[發(fā)明專利]一種智能變電站繼電保護(hù)裝置整組同步試驗(yàn)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410131140.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-04-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103869242A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙永生;劉海峰;李輝;梁文武;陳宏;劉偉良;歐陽(yáng)帆;洪權(quán);敖非;許立強(qiáng);臧欣;沈楊;潘偉;劉宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)湖南省電力公司;國(guó)網(wǎng)湖南省電力公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙正奇專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 43113 | 代理人: | 馬強(qiáng) |
| 地址: | 100033 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 智能 變電站 保護(hù)裝置 同步 試驗(yàn) 系統(tǒng) | ||
1.一種智能變電站繼電保護(hù)裝置整組同步試驗(yàn)系統(tǒng),包括變電站GPS對(duì)時(shí)系統(tǒng)、光纖配線架、N個(gè)繼電保護(hù)測(cè)試儀,N個(gè)合并單元、N個(gè)智能終端設(shè)備,其特征在于,還包括N個(gè)全站同步時(shí)鐘擴(kuò)展裝置;所述變電站GPS對(duì)時(shí)系統(tǒng)通過(guò)光纖配線架與所述N個(gè)全站同步時(shí)鐘擴(kuò)展裝置連接;其中N個(gè)全站同步時(shí)鐘擴(kuò)展裝置各與一個(gè)繼電保護(hù)測(cè)試儀連接,該N個(gè)繼電保護(hù)測(cè)試儀各與一個(gè)所述合并單元、一個(gè)所述智能終端設(shè)備連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能變電站繼電保護(hù)裝置整組同步試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述全站同步時(shí)鐘擴(kuò)展裝置包括依次連接的IRIG-B碼接收模塊、單片機(jī)、FPGA、輸出模塊,所述IRIG-B碼接收模塊、單片機(jī)、FPGA均與邏輯控制電路連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的智能變電站繼電保護(hù)裝置整組同步試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述IRIG-B碼接收模塊包括TTL接收電路、RS422接收電路和光纖接收電路,所述TTL接收電路包括緩沖器和與所述緩沖器連接的第一光耦隔離芯片,所述第一光耦隔離芯片接入所述邏輯控制電路;所述RS422接收電路包括MAX3081芯片和與所述MAX3081芯片連接的第二光耦隔離芯片,所述第二光耦隔離芯片接入所述邏輯控制電路;所述光纖接收電路包括HFBR-24X2芯片與所述HFBR-24X2芯片連接的74LVC1G240芯片,所述74LVC1G240芯片的一個(gè)輸出端與第一光耦連接,所述74LVC1G240芯片的另一個(gè)輸出端與所述邏輯控制電路連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的智能變電站繼電保護(hù)裝置整組同步試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述邏輯控制電路包括四個(gè)高速可控緩沖門(mén),第一、第二高速可控緩沖門(mén)串聯(lián),第二高速可控緩沖門(mén)、第四高速可控緩沖門(mén)輸出端接入FPGA;第一、第二、第三、第四高速可控緩沖門(mén)控制端均接入單片機(jī);所述第一高速可控緩沖門(mén)的輸出端和第三高速可控緩沖門(mén)輸出端均與所述單片機(jī)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的時(shí)間同步裝置,其特征在于,所述輸出模塊包括IRIG-B碼電信號(hào)輸出部分、IRIG-B碼光信號(hào)輸出部分、分秒脈沖輸出部分;所述IRIG-B碼電信號(hào)輸出部分包括TTL輸出電路和RS422輸出電路,所述TTL輸出電路包括第三光耦,所述RS422輸出電路包括一級(jí)轉(zhuǎn)換芯片,所述第三光耦一個(gè)輸入端與所述FPGA連接,所述第三光耦輸出端與所述一級(jí)轉(zhuǎn)換芯片連接;所述IRIG-B碼光信號(hào)輸出部分包括第一雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器,所述第一雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器接有兩個(gè)光纖接口芯片,所述第一雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器輸入端與所述第三光耦輸出端連接;所述分秒脈沖輸出部分包括TTL電平DB9接口分秒脈沖輸出電路、TTL電平鳳凰端子接口分秒脈沖輸出電路、光信號(hào)分秒脈沖輸出電路;所述TTL電平DB9接口分秒脈沖輸出電路包括SN74LVC4245PW驅(qū)動(dòng)器和與所述SN74LVC4245PW驅(qū)動(dòng)器連接的DB9連接器,所述SN74LVC4245PW驅(qū)動(dòng)器輸入端與所述FPGA連接;所述TTL電平鳳凰端子接口分秒脈沖輸出電路包括第四光耦、第五光耦,所述第四光耦和第五光耦輸入端分別與所述FPGA連接;所述光信號(hào)分秒脈沖輸出電路包括第二雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器,所述第二雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器接有兩個(gè)光纖接口芯片,所述第二雙與門(mén)驅(qū)動(dòng)器輸入端分別與所述第四光耦、第五光耦輸出端連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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