[發(fā)明專利]一種用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410127313.3 | 申請日: | 2014-03-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103915828A | 公開(公告)日: | 2014-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 喬明;馬金榮;齊釗;石先龍;曲黎明;張波 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H02H9/02 | 分類號(hào): | H02H9/02;H01L27/02 |
| 代理公司: | 成都宏順專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李順德;王睿 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 集成電路 rc 觸發(fā) esd 保護(hù) 電路 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子技術(shù)領(lǐng)域,涉及半導(dǎo)體集成電路芯片的靜電釋放(ElectroStatic?Discharge,簡稱為ESD)保護(hù)電路技術(shù),尤指一種用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路。
背景技術(shù)
在集成電路生產(chǎn)、封裝、測試、存放、搬運(yùn)過程中,靜電放電作為一種不可避免的自然現(xiàn)象而普遍存在。隨著集成電路工藝特征尺寸的減小和各種先進(jìn)工藝的發(fā)展,集成電路被ESD現(xiàn)象損毀的情況越來越普遍,有關(guān)研究調(diào)查表明,集成電路失效產(chǎn)品的30%都是由于遭受靜電放電現(xiàn)象所引起的。因此,使用高性能的ESD防護(hù)器件對集成電路電路加以保護(hù)顯得十分重要。
隨著集成電路工藝特征尺寸的減小和各種先進(jìn)工藝的發(fā)展,特別是深亞微米的工藝中,依靠鉗位器件的反偏PN節(jié)擊穿的傳統(tǒng)ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)已經(jīng)很難滿足ESD的設(shè)計(jì)要求,而通過RC觸發(fā)電路來開啟ESD鉗位器件的方法則能有效的保護(hù)集成電路。
圖1是傳統(tǒng)用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路,包括:RC觸發(fā)電路103和ESD鉗位器件104。觸發(fā)電路103包括電阻105、電容106、PMOS管107和NMOS管108。電阻105和電容106串聯(lián)后的電阻端接VDD電源線101,其電容端接VSS電源線102;電阻105和電容106的連接點(diǎn)109接PMOS管107柵極和NMOS管108的柵極,PMOS管107的源極接VDD電源線101,NMOS管108的源極接VSS電源線102,PMOS管107的漏極和NMOS管108的漏極互連并接ESD鉗位器件104的控制端,鉗位器件104的高壓端接VDD電源線101,鉗位器件104的低壓端接VSS電源線102。
該RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路的工作原理為:RC觸發(fā)電路103內(nèi)由電阻105和電容106構(gòu)成的RC串聯(lián)電路的時(shí)間常數(shù)設(shè)計(jì)在0.1~1us,在不上電的情況下,ESD脈沖沒有加在電源線101和102之間時(shí),電位點(diǎn)109的電位為0,當(dāng)VDD電源線101端出現(xiàn)一正ESD脈沖時(shí),由于ESD電壓具有很快的上升速度(其上升時(shí)間約在5~15ns),電位點(diǎn)109的電壓因RC延遲效應(yīng)無法跟得上101端的ESD電壓上升速度,因此電位點(diǎn)109的低電位導(dǎo)致PMOS管107和NMOS管108構(gòu)成的反相器的輸出端110的電位藉由101上的ESD電壓而上升到高電位。而電位點(diǎn)110的高電位會(huì)觸發(fā)ESD鉗位器件104,從而旁通掉ESD電流。而在正常的工作條件下,VDD電源線101外加一固定的工作電壓,在開機(jī)時(shí),VDD電源線101的電壓是從0V逐漸上升到5V的,但是由于VDD電源線101的電壓上升時(shí)間約1ms左右,而RC觸發(fā)電路的時(shí)間常數(shù)設(shè)計(jì)為0.1~1us,因此電位點(diǎn)109的電壓跟得上101端工作電壓上升速度,則反相器不會(huì)開啟,電位點(diǎn)110保持低電位,從而不會(huì)開啟ESD鉗位器件,不會(huì)影響內(nèi)部電路的正常工作。
該觸發(fā)電路雖然能很好的開啟ESD鉗位器件,以泄放ESD電流,但是帶來的副作用也是很明顯的,由于RC觸發(fā)電路的RC時(shí)間常數(shù)(即RC觸發(fā)時(shí)間)需要設(shè)計(jì)在0.1~1μs范圍內(nèi),常用的典型值是200ns,因此就需要很大電阻和電容(比如2pF的電容和100K歐的電阻),這往往就需要很大的版圖面積,增加設(shè)計(jì)成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對常規(guī)用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路中RC觸發(fā)電路的RC時(shí)間常數(shù)偏大,需要較大的電阻和電容,從而導(dǎo)致RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路占用芯片面積過大的技術(shù)問題,提供一種用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路。該RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路具有RC時(shí)間常數(shù)更小,無需較大電阻和電容的優(yōu)勢,從而使得RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路占用芯片面積大大降低,最終達(dá)到降低集成電路成本的目的。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
一種用于集成電路的RC觸發(fā)式ESD保護(hù)電路,如圖2所示,包括:RC觸發(fā)電路103和ESD鉗位器件104。觸發(fā)電路103包括兩個(gè)電阻105和205、一個(gè)電容106、一個(gè)PMOS管107和一個(gè)NMOS管108。第一電阻105和電容106串聯(lián)后的電阻端接VDD電源線101,其電容端接VSS電源線102;第一電阻105和電容106的連接點(diǎn)109接PMOS管107的柵極和NMOS管108的漏極,PMOS管107的源極接VDD電源線101,NMOS管108的源極接VSS電源線102,PMOS管107的漏極和NMOS管108的柵極互連后的連接點(diǎn)110接ESD鉗位器件104的控制端的同時(shí)通過第二電阻205接VSS電源線102。鉗位器件104的高壓端接VDD電源線101,鉗位器件104的低壓端接VSS電源線102。
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