[發(fā)明專利]一種ITO粗化的GaN基LED芯片及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410121785.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-03-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103904183B | 公開(公告)日: | 2017-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃華茂;王洪;胡金勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L33/22 | 分類號(hào): | H01L33/22;H01L33/00 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司44102 | 代理人: | 何淑珍 |
| 地址: | 510640 廣*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ito gan led 芯片 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及GaN基LED芯片領(lǐng)域,具體涉及ITO表面粗化的GaN基LED芯片及制備方法。?
背景技術(shù)
隨著GaN基LED的應(yīng)用越來越廣泛,如何使用生產(chǎn)線上成熟且低成本的技術(shù)實(shí)現(xiàn)ITO表面粗化以提高芯片出光效率是產(chǎn)業(yè)界重要的研究課題。表面粗化,亦即在芯片表面制備微結(jié)構(gòu),可增加光線在半導(dǎo)體材料和封裝材料分界面入射角度的隨機(jī)性,減少光線發(fā)生全反射的幾率,從而有效地提高光提取效率。?
目前實(shí)現(xiàn)ITO表面粗化的方案主要有以下幾種。使用紫外光刻技術(shù),在ITO上制備緊密分布的微結(jié)構(gòu)陣列;受衍射極限的限制,這種方法只能實(shí)現(xiàn)微米級(jí)別的表面微結(jié)構(gòu);使用電子束光刻技術(shù)或者激光全息光刻技術(shù),在ITO上制備規(guī)則齊整的納米尺寸的表面微結(jié)構(gòu);這種方法不適合生產(chǎn)線的批量生產(chǎn)。納米壓印技術(shù)是一種潛在的批量生產(chǎn)技術(shù),但要求廠商額外購(gòu)買昂貴的專用設(shè)備,而且壓印母板的制備較為昂貴,研發(fā)成本高,目前尚未成熟。實(shí)驗(yàn)室中還采用在襯底表面旋涂聚苯乙烯納米球或Ni納米粒子懸浮液;或者在襯底表面蒸鍍氯化物并使之吸收水分形成納米島;或者將芯片置入化合物的飽和溶液使之析出沉積納米級(jí)顆粒;或者蒸鍍金屬薄膜后高溫退火使金屬團(tuán)聚形成納米顆粒;這些方法可制備成本較低的納米尺寸的掩模,再通過干法刻蝕或濕法腐蝕,將圖形轉(zhuǎn)移到ITO層;但都引入了生產(chǎn)線上原本沒有的額外材料作掩模。?
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述ITO表面粗化方案的缺點(diǎn),本發(fā)明公開一種高光提取效率、適用于LED生產(chǎn)線批量生產(chǎn)、無需增加額外設(shè)備且低成本的ITO粗化的GaN基LED芯片及其制備方法。?
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:(A)使用電子束蒸發(fā)在GaN基LED外延片表面沉積一層ITO作為透明導(dǎo)電層;(B)將步驟(A)得到的基片置入稀鹽酸溶液進(jìn)行無掩模的濕法腐蝕;(C)使用去離子水清洗步驟(B)得到的基片后放入烤箱烘烤;(D)在步驟(C)烘烤后的基片表面涂覆一層增粘劑;(E)再涂覆一層正性或負(fù)性光刻膠,在熱板上烘烤后,使用具有微米尺寸結(jié)構(gòu)的光刻掩模版進(jìn)行普通紫外曝光,并再次在熱板上烘烤;?
(F)將步驟(E)得到的基片置入顯影液中顯影;(G)使用去離子水清洗后放入烤箱烘烤;(H)再置入稀鹽酸溶液進(jìn)行有掩模的濕法腐蝕;(I)去除光刻膠后高溫退火。
所述制備步驟(A)中電子束蒸發(fā)工藝的特征是,蒸鍍過程中氧氣流量為1sccm~20sccm,沉積溫度為150℃~300℃,ITO的厚度為100nm~1000nm。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(B)和(H)中濕法腐蝕工藝是,鹽酸濃度為3%~50%,腐蝕溫度為10℃~80℃,腐蝕時(shí)間根據(jù)鹽酸濃度和腐蝕溫度調(diào)整,范圍不超過5sec~60min。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(C)和(G)中烤箱烘烤工藝的特征是,溫度為50℃~200℃,烘烤時(shí)間為30sec~60min。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(D)中增粘劑涂覆工藝是,涂覆工藝是真空蒸注技術(shù)和旋涂技術(shù)中的一種。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(E)中熱板烘烤工藝是,熱板烘烤的時(shí)間不超過3min,溫度不超過120℃。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(F)中顯影工藝是,顯影液使用磁力攪拌、循環(huán)泵、毛刷輥、人工晃動(dòng)攪拌方法中的一種以上,顯影液溫度波動(dòng)不超過4℃,溫度均勻性優(yōu)于±2℃。?
進(jìn)一步優(yōu)化地,步驟(I)中退火工藝是,在惰性氣氛下退火,退火溫度為300℃~800℃,退火時(shí)間為3min~60min。?
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:?
1、本發(fā)明在LED芯片的ITO透明導(dǎo)電層同時(shí)制備納米尺寸和微米尺寸的微結(jié)構(gòu),相比單獨(dú)制備納米尺寸結(jié)構(gòu)或者單獨(dú)制備微米尺寸結(jié)構(gòu)的芯片,具有更高的光輸出功率。
2、本發(fā)明完全基于LED生產(chǎn)線的現(xiàn)有成熟工藝和原材料,無需增加額外設(shè)備和原材料。?
3、本發(fā)明使用普通紫外光刻工藝和兩步濕法腐蝕工藝,成本低廉。?
附圖說明
圖1為?ITO未粗化的基片示意圖。?
圖2?為ITO無掩模濕法腐蝕實(shí)現(xiàn)納米尺寸粗化后的基片示意圖。?
圖3?為使用正性光刻膠做光刻,ITO有掩模濕法腐蝕實(shí)現(xiàn)微米尺寸粗化后的基片示意圖。?
圖4?為使用負(fù)性光刻膠做光刻,ITO有掩模濕法腐蝕實(shí)現(xiàn)微米尺寸粗化后的基片示意圖。?
圖5?為GaN基LED芯片的輸入電流-輸出光功率曲線。?
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