[發明專利]一種X射線數字平板成像檢測技術

無效

• 申請號: 201410102370.6
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN103837555A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 王建華
• 申請（專利權）人: 煙臺華科檢測設備有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種X射線數字平板成像檢測技術，整套檢測系統主要由平板探測器，計算機及軟件組成，其特征在于，當X射線穿過被檢測物體到達平板探測器時，平板探測器將X射線不可見光信息轉換成數字信號，然后由計算機軟件處理成數字圖像顯示；

所述平板探測器的中間是一個非晶硅TFT/光電二極管排列，與這個陣列緊密結合在一起的是X射線閃爍體；

所述的平板探測器由一片附有薄層非晶硅的玻璃組成；

所述的閃爍體是由碘化銫組成；碘化銫是一種X射線吸收體，能把X射線轉化成可見光光子，然后進入光電二極管陣列；

碘化銫和非晶硅這兩種材料的結合產生最高的量子檢測效率。

2.根據權利要求1所述的X射線數字平板成像檢測技術，其特征在于，量子檢測效率是衡量成像器性能的尺度。

3.根據權利要求1所述的X射線數字平板成像檢測技術，其特征在于，非晶硅以極小的尺寸刻印成數百萬晶體管，排列成高度有序的陣列，每個薄膜晶體管附著在高吸收性的光電二極管上，從而形成各個像素。

4.?根據權利要求1所述的X射線數字平板成像檢測技術，其特征在于，可見光光子撞擊光電二極管，轉化成電荷的兩個載體，由于產生的電荷載體會隨著進入的光子的強度變化而變化，電子圖像產生了，通過計算機迅速的讀取和解釋所產生數字圖像。

5.根據權利要求1所述的X射線數字平板成像檢測技術，其特征在于，所述平板探測器中的平板X射線成像器，是以大尺寸的以非晶硅薄膜晶體管陣列形式的固態集成電路為基礎。

6.根據權利要求1所述的X射線數字平板成像檢測技術，其特征在于，平板成像幀速率在每秒1-2幀，抓圖時間在8秒-12秒。