[發明專利]一種基板的檢測方法及檢測裝置

有效

• 申請號: 201410092883.3
• 申請日: 2014-03-13
• 公開（公告）號: CN103885218A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 毛繼禹;張然;駱宏晨;王立夫
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G06T7/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，特別是一種基板的檢測方法及檢測裝置。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器TFT-LCD作為手機、Pad、筆記本電腦、顯示器及電視機等產品的顯示元件，在現今的生活中已變得不可或缺。

為了保證顯示器的性能，在顯示器生產和銷售的過程中要進行各種各樣的測試，其中就包括對顯示面板的顯示性能（如閃爍、Mura等）的測試。

然而，很多測試的測試結果的準確度都與面板的工藝生產條件相關。然而現有技術中并沒有一種能夠識別基板工藝生產條件的方法，因此現有技術中所有的測試都與基板的工藝生產條件無關，導致測試結果并不準確。

發明內容

本發明實施例的目的在于提供一種能夠識別基板的工藝生產條件的檢測方法及檢測裝置。

為了實現上述目的，本發明實施例提供了一種基板的檢測方法，包括：

將待測基板在預定照明條件下的原始圖像轉換為灰度圖像；

根據所述灰度圖像獲取所述待測基板對應的識別參數檢測值，所述識別參數為與灰度相關的參數；

將所述識別參數檢測值和多組預先設置的識別參數統計值分別進行比較，從所述多組識別參數統計值中確定與所述識別參數檢測值匹配的一組識別參數統計值；每一組識別參數統計值記錄了對應的工藝生產條件下生產的多個基板的識別參數檢測值的統計結果；

確定所述待測基板的工藝生產條件為：與所述識別參數檢測值匹配的一組識別參數標準值對應的工藝生產條件。

上述的檢測方法，其中，所述基板能夠被切分為多張面板，所述識別參數包括基板平均灰度參數、面板平均灰度參數和面板灰度均一參數中的至少一個。

上述的檢測方法，其中，所述識別參數為面板平均灰度參數時，獲取所述待測基板對應的識別參數檢測值具體包括：

根據所述灰度圖像確定每一個面板的多個檢測點的灰度值的和；所述多個檢測點包括位于所述面板中心的中心檢測點和與所述中心檢測點的距離大于或等于預定距離的多個周邊檢測點；

根據所述多個檢測點的灰度值的和計算每一個面板的面板灰度參數檢測值；

根據多張面板的面板灰度參數檢測值計算面板平均灰度參數的檢測值。

上述的檢測方法，其中，所述識別參數為面板平均灰度參數和面板灰度均一參數時，獲取所述待測基板對應的識別參數檢測值具體包括：

根據所述灰度圖像確定每一個面板的多個檢測點的灰度值的和；所述多個檢測點包括位于所述面板中心的中心檢測點和與所述中心檢測點的距離大于或等于預定距離的多個周邊檢測點；

根據所述多個檢測點的灰度值的和計算每一個面板的面板灰度參數檢測值；

根據多張面板的面板灰度參數檢測值計算面板平均灰度參數的檢測值；

確定所述面板灰度均一參數的檢測值為：面板灰度參數檢測值的最小值或最大值與面板平均灰度參數的檢測值的商。

上述的檢測方法，其中，還包括：

根據預先記錄的不同工藝生產條件各自對應的Mura檢測標準參數，確定并設置與所述待測基板的工藝生產條件對應的Mura檢測標準參數；

根據所述灰度圖像確定所述待測基板的對應于不同位置的多個灰度檢測值；

利用設置的Mura檢測參數和所述灰度檢測值對所述待測基板進行Mura檢測。

上述的檢測方法，其中，還包括：

當所述多組識別參數統計值中不存在與所述識別參數檢測值匹配的一組識別參數統計值時，記錄所述待測基板和后續待測基板對應的識別參數檢測值；

根據所述待測基板和后續待測基板對應的識別參數檢測值獲取所述待測基板對應的工藝生產條件對應識別參數統計值。

為了更好的實現上述目的，本發明實施例還提供了一種基板的檢測裝置，包括：

轉換模塊，用于將待測基板在預定照明條件下的原始圖像轉換為灰度圖像；

參數檢測值獲取模塊，用于根據所述灰度圖像獲取所述待測基板對應的識別參數檢測值，所述識別參數為與灰度相關的參數；

匹配模塊，用于將所述識別參數檢測值和多組預先設置的識別參數統計值分別進行比較，從所述多組識別參數統計值中確定與所述識別參數檢測值匹配的一組識別參數統計值；每一組識別參數統計值記錄了對應的工藝生產條件下生產的多個基板的識別參數檢測值的統計結果；

確定模塊，用于確定所述待測基板的工藝生產條件為：與所述識別參數檢測值匹配的一組識別參數標準值對應的工藝生產條件。